EMI測試那點(diǎn)事——高速數據引起的EMI問(wèn)題

此時(shí)底噪明顯下降，280MHz處為-71dBm，當我們再將頻譜分析時(shí)間段右移至完全沒(méi)有突發(fā)幅度處時(shí)，得到如下測試結果：

此時(shí)底噪已經(jīng)降低到-85dBm一下，原來(lái)280MHz頻點(diǎn)處被底噪淹沒(méi)的-73dBm的信號此時(shí)已經(jīng)顯現出來(lái)。

由于該電路板EMI呈周期性變化，既然FPGA的設計難以在短時(shí)間內更改，我們能否通過(guò)有效的控制手段，讓有用的射頻信號在突發(fā)周期間隔中底噪較低的時(shí)刻發(fā)射，而在突發(fā)幅度時(shí)刻不發(fā)射有用信息？客戶(hù)認為此方法可行。底噪呈周期性變化，必定與電路板中某種控制信號相關(guān)，雖然我們已經(jīng)測試出突發(fā)底噪變化的周期，但如果我們不知道這種周期與哪種控制相關(guān)，上述設想就難以實(shí)現?？蛻?hù)對其內部控制時(shí)序相當熟悉，94uS的周期剛好是該電路板高速USB信號傳輸控制周期。為了驗證這一假設，我們將MDO示波器通道1接到高速USB控制測試點(diǎn)，同時(shí)測試射頻頻譜，得到如下結果：

以上測試結果充分證明了通道1中的高速USB信號與底噪突發(fā)抬升的規律相同，證明二者相關(guān)。高速USB的時(shí)序由嵌入式程序控制，因此只要在程序中控制射頻在高速USB信號發(fā)出后延遲50uS發(fā)射，發(fā)射持續時(shí)間小于40uS即可。

案例總結：

本案例利用MDO跨域分析及調制域分析功能，成功地確認EMI與高速USB信號相關(guān)，通過(guò)時(shí)序控制，跨域有效避免以前難以解決的問(wèn)題。