EMI測試那點(diǎn)事
電磁兼容(EMC)包括電磁干擾(EMI)和電磁抗擾度(EMS)兩部分。簡(jiǎn)而言之,EMI是電子設備對外部電磁環(huán)境的干擾,EMS是電子設備抵抗外部電磁環(huán)境干擾的能力。無(wú)論是EMI還是EMS,都包括輻射和傳導兩部分。EMC認證是任何電子設備必須遵從的,EMI是EMC中的重要部分。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/201701/338041.htmEMI測試包括
1. EMC 認證機構在EMC實(shí)驗室進(jìn)行認證測試;
2. 企業(yè)質(zhì)檢部門(mén)利用EMI接收機或高指標頻譜儀進(jìn)行EMI預認證測試;
3. 產(chǎn)品研發(fā)、調測部門(mén)利用頻譜儀進(jìn)行EMI診斷;
4. 產(chǎn)品研發(fā)調測部門(mén)利用示波器測試電源紋波、時(shí)鐘抖動(dòng)等特性,因為它們是產(chǎn)生EMI的因素之一。
EMI診斷
在電子設備設計、調試階段,隨時(shí)進(jìn)行EMI診斷是保證電子設備通過(guò)EMC認證行之有效且費用最低的手段。如果最終產(chǎn)品EMC認證不合格,設計者需要重新進(jìn)行EMI診斷,找出EMI問(wèn)題的根源,但此時(shí)可用的整改手段已經(jīng)不多,進(jìn)行重新設計,費用將倍增。由此可見(jiàn)EMI診斷是日常工作中經(jīng)常進(jìn)行的,而EMI預認證以及認證測試只有在電子產(chǎn)品定型階段才進(jìn)行。有關(guān)EMI診斷預EMI預認證或認證的區別見(jiàn)下表。

峰值檢波與準峰值檢波:
EMI 認證機構通常按照EMI標準的準峰值檢波進(jìn)行測試,而EMI診斷中往往用峰值檢波,兩者不匹配,EMI診斷是否還有意義?由于EMI診斷的目的是為了找出EMI的根源,并不需要絕對精確的測試,而是需要相對的重復性好的測試。準峰值檢波用來(lái)檢測信號包絡(luò )加權后的峰值(準峰值),它根據時(shí)長(cháng)和重復率對信號加權。準峰值檢波的平均過(guò)程需耗費時(shí)間,測試時(shí)間長(cháng),不利于日常診斷。由于準峰值檢波測試幅度結果永遠小于或等于峰值檢波的測試結果,因此在進(jìn)行EMI診斷時(shí),用峰值檢波可以快速發(fā)現EMI問(wèn)題。
EMI測試中工程師的“痛點(diǎn)”:
1. 從電路板設計開(kāi)始就應該考慮EMI問(wèn)題,但受資金限制,EMI診斷設備往往不能配備到位。
2. 電子產(chǎn)品設計定型后去進(jìn)行EMC認證測試,認證機構給出不合格報告,僅指出輻射還是傳導EMI不合格,雖然給出干擾頻點(diǎn),但并不指出電子設備中EMI不合格的具體位置或原因,需自行進(jìn)行EMI診斷,耗費時(shí)間與資金。
3. 某些設備受環(huán)境制約無(wú)法進(jìn)行屏蔽,需找出EMI根源從設計上解決。頻譜儀是發(fā)現EMI問(wèn)題的基本測試儀器,但某些情況下難以追蹤EMI的根源。
4. 某些EMI問(wèn)題可以通過(guò)屏蔽方式解決,雖然可以通過(guò)EMC認證,但EMI影響該設備自身性能,必須從根源上解決,或找出問(wèn)題所在加以回避。在此種情況下,頻譜儀存在與3同樣的問(wèn)題。
5. 隨著(zhù)數據速率的加快,周期性突發(fā)的EMI問(wèn)題日益增多,必須通過(guò)對EMI周期的分析找出問(wèn)題的真正根源,這需要調制域分析。
6. 傳導類(lèi)EMI可以用示波器追蹤,同時(shí)需要用頻譜儀測試,需要兩種儀器結合運用。
泰克基于獨特的混合域示波器的EMI測試方案:
方案:MDO4014-3 +近場(chǎng)天線(xiàn)+ P6150 + N轉SMA
特點(diǎn):
a) 五合一,完備的示波器功能既可以滿(mǎn)足日常電路調測需求,還可以追蹤EMI問(wèn)題的根源;頻譜儀功能可以隨時(shí)診斷EMI問(wèn)題。
b) 具有特色的跨域分析功能,便于分析EMI的真正根源
c) 頻譜高靈敏度、分析帶寬寬,適用于EMI診斷測試
d) 可測試射頻幅度隨時(shí)間的變化,便于分析周期性EMI問(wèn)題產(chǎn)生的根源
e) P6150 探頭(選配)可直接將電路板電源或地線(xiàn)連接到MDO頻譜儀射頻輸入端,測試電源紋波或地線(xiàn)不合理引起的EMI問(wèn)題

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