單器件的LED測試系統

元器件操控器將單個(gè)HBLED（或者一組HBLED）運送到一個(gè)測試夾具上，夾具可以屏蔽環(huán)境光，且內帶一個(gè)用于光測量的光電探測器（PD）[1]。需要使用兩個(gè)SMU：SMU#1向HBLED提供測試信號，并測量其電響應；SMU#2則在光學(xué)測量過(guò)程中檢測光電探測器。

測試程序可以被編程設定為，在一根來(lái)自于元器件操控器的數字信號線(xiàn)[作為“測試啟動(dòng)”（SOT）[2]]控制下啟動(dòng)。當儀器探測到該信號時(shí)，測試程序啟動(dòng)。一旦執行完畢，則讓元器件操縱器的一條數字信號線(xiàn)發(fā)出“測試完畢”的標志。此外，儀器的內建智能可以執行所有的通過(guò)/不通過(guò)操縱并通過(guò)儀器的數字I/O端口發(fā)送數字指令至元器件操縱器，以便讓HBLED能根據通過(guò)/不通過(guò)標準來(lái)對HBLED進(jìn)行分類(lèi)。于是可以通過(guò)編程讓兩個(gè)動(dòng)作同時(shí)執行：數據傳送至PC進(jìn)行統計處理，而同時(shí)一個(gè)新的DUT[3]運送到測試夾具上。
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