基于33CX201的可控硅快速測試儀電路圖

如圖所示為可控硅快速測試電路，主要由555組成。該測試儀由脈沖信號發(fā)生器、閉合導通環(huán)路、發(fā)光二極管、可控硅SCR等組成。插上可控硅SCR，當按下按鈕AN后，在555輸出高電平時(shí)，發(fā)光二極管LED1、電阻R4、可控硅SCR、晶體管BG2形成閉合回路，發(fā)光管LED1發(fā)光；當555輸出低電平時(shí)，LED2、R4、SCR、BG1形成閉合回路，發(fā)光管LED2發(fā)光，說(shuō)明可控硅是好的。在測試時(shí)插上可控硅SCR后，發(fā)光管LED1、LED2應不亮，否則說(shuō)明T1、T2的兩極已短接。多諧振蕩器，其振蕩頻率為f=1.44/(R1+2R2)C。圖示參數對應的振蕩頻率約為1Hz。由于R1<脈沖發(fā)生器輸出脈沖的占空比接近1:1。

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