淺談手機輻射騷擾抗擾度測試（RS）及整改方法

近年來(lái)，隨著(zhù)人們生活水平的提高和信息技術(shù)的飛速發(fā)展，廣大消費者對手機性能的要求也越來(lái)越高。因此，對于手機制造商以及設計公司來(lái)說(shuō)，只有不斷提升手機的性能水平，才能滿(mǎn)足日益增長(cháng)的市場(chǎng)需求。 提高手機的性能水平，我們就必須關(guān)注手機的測試中，一項重要的測試項目：輻射騷擾抗擾度測試（RS）。輻射騷擾抗擾度測試（RS）的測試目的是檢驗手機抗外界輻射騷擾的能力，從而提高手機應對外界騷擾的能力，使手機更加穩定的工作。在手機的CE標準（EN301 489-1和EN301 489-7）和國家進(jìn)網(wǎng)的標準（YD-1032）中，對輻射騷擾抗擾度測試（RS）都是極為嚴格的。在這里我們將對手機輻射騷擾抗擾度測試（RS）及測試中的一些整改措施做如下介紹：
（一）試驗方法和等級：
表1 試驗等級

等級	試驗場(chǎng)強V/m
1	1
2	3
3	10
X	特定
注：X是一個(gè)開(kāi)放等級

1）手機RS測試的試驗等級一般為表1中等級2，即場(chǎng)強3V/M。作為試驗設備，要用1KHz的正弦波對未調制信號進(jìn)行80%的條幅調制來(lái)模擬實(shí)際情況。

2）頻率掃描步長(cháng)應為瞬時(shí)頻率的1%。

3）試驗應在80MHZ-1GHZ整個(gè)頻率范圍內進(jìn)行，但發(fā)信機，收信機或作為收發(fā)信機一部分的收信機的免測頻段除外。

4）實(shí)驗時(shí)，手機應放置于一個(gè)0.8M高的絕緣試驗臺上。

5）如果受試設備的進(jìn)、出線(xiàn)沒(méi)有規定，則使用非屏蔽平行導線(xiàn)。從受試設備引出的連線(xiàn)暴露在電磁場(chǎng)中的距離為1M。

6）受試設備的連線(xiàn)應平行于均勻域布置，以使其處于較敏感的位置。

（二）性能判據：
試驗時(shí)，應建立并保持通信連接。如果收信機或作為收發(fā)信機一部分的收信機在離散頻率點(diǎn)的相應是窄帶相應，那么此相應忽略不計。試驗頻率應記錄在報告中
1) 對EUT，當通過(guò)一個(gè)CF為1KHZ，BW為200HZ的音頻BPF測量是，上行和下行語(yǔ)音輸出電平應至少比記錄的參考電平低35dB。試驗后，EUT應正常工作，沒(méi)有用戶(hù)控制功能的喪失或存儲數據的丟失，并且保持通信連接。
2) 試驗時(shí),EUT下行鏈路的RXQUAL的值應不超過(guò)3. 空閑模式下也要進(jìn)行測試。
以上是相關(guān)的標準要求，但是為了提供手機的性能一些大的手機生產(chǎn)廠(chǎng)商把測試等級加強，如諾基亞把試驗等級為場(chǎng)強提高到10V/M，并且試驗頻率在80MHZ-2GHZ的范圍內進(jìn)行。這就提高了手機的性能，加強了客戶(hù)對諾基亞的信任。
（三）容易出現的問(wèn)題：
1）手機在測試過(guò)成中出現斷話(huà)，只有重新建立通話(huà)才能測試。（如果此問(wèn)題反復出現說(shuō)明手機設計有比較嚴重的問(wèn)題，一般需要更改手機內部的電路板）
2）上行和下行語(yǔ)音輸出電平超出記錄的參考電平35dB。
3）下行鏈路的RXQUAL的值超過(guò)3.
（四）整改方法：
輻射騷擾抗擾度測試（RS）的測試除了和手機本身有很大關(guān)系外，和充電器及電池也有很大關(guān)系。因為騷擾信號可能通過(guò)充電器和電池耦合到手機的內部從而影響手機的性能。整改方法如下：
1）在充電器的線(xiàn)上加磁環(huán)，磁環(huán)的作用能濾波，從而減少或消除沖充電器騷擾到手機內部，磁環(huán)的應選擇質(zhì)量較好的，加在充電器兩端，如下圖所示：
圖一
圖二
圖三
說(shuō)明：圖一和圖二是常用的加磁環(huán)的方法，如果還不能通過(guò)就采用圖三所示的方法。
2）另外可能造成測試FAIL的原因是電池，可以挑選通過(guò)相關(guān)認證的電池，或將電池包上銅箔來(lái)消除或減少對手機的騷擾。
以上所述只是一些常用的整改方法。在手機的設計過(guò)程中，必須考慮到EMC和SAR的各種測試的要求，其中各個(gè)測試標準的指標有時(shí)是相互矛盾的，這就需要手機廠(chǎng)商和設計公司找到各個(gè)測試項目的平衡點(diǎn)?？傊謾C如要順利通過(guò)EMC測試，貴在設計。