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什么是OTA測試

作者: 時(shí)間:2016-12-26 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò ) 收藏
1.OTA 測試介紹

1.1 手機的無(wú)源測試和有源測試
當前在手機射頻性能測試中越來(lái)越關(guān)注整機輻射性能的測試,這種輻射性能反映了手機的最終發(fā)射和接收性能。目前主要有兩種方法對手機的輻射性能進(jìn)行考察:一種是從天線(xiàn)的輻射性能進(jìn)行判定,是目前較為傳統的天線(xiàn)測試方法,稱(chēng)為無(wú)源測試;另一種是在特定微波暗室內,測試手機的輻射功率和接收靈敏度,稱(chēng)為有源測試。OTA(Over The Air)測試就屬于有源測試。
無(wú)源測試側重從手機天線(xiàn)的增益、效率、方向圖等天線(xiàn)的輻射參數方面考察手機的輻射性能。無(wú)源測試雖然考慮了整機環(huán)境(比如天線(xiàn)周?chē)骷?、開(kāi)蓋和閉蓋)對天線(xiàn)性能的影響,但天線(xiàn)與整機配合之后最終的輻射發(fā)射功率和接收靈敏度如何,從無(wú)源測試數據無(wú)法直接得知,測試數據不是很直觀(guān)。
有源測試則側重從手機整機的發(fā)射功率和接收靈敏度方面考察手機的輻射性能。有源測試是在特定的微波暗室中測試整機在三維空間各個(gè)方向的發(fā)射功率和接收靈敏度,更能直接地反映手機整機的輻射性能。
CTIA(Cellular Telecommunication and Internet Association)制定了OTA(Over The Air)的相關(guān)標準。OTA 測試著(zhù)重進(jìn)行整機輻射性能方面的測試,并逐漸成為手機廠(chǎng)商重視和認可的測試項目。

1.2 OTA 測試的目的
目前只有通過(guò)FTA(Full Type Approval)認證測試的手機型號才能上市銷(xiāo)售,在FTA 測試中,射頻性能測試主要進(jìn)行手機在電纜連接模式下的射頻性能測試;至于手機整機的輻射發(fā)射和接收性能,在FTA 測試中沒(méi)有明確的規定,而OTA 測試正好彌補FTA 測試在這方面測試的不足。同時(shí),終端生產(chǎn)廠(chǎng)家必須對所生產(chǎn)手機的輻射性能有清楚的了解,并通過(guò)各種措施提高手機輻射的發(fā)射和接收指標。如果手機輻射性能不好,將產(chǎn)生手機信號不好、語(yǔ)音通話(huà)質(zhì)量差、容易掉線(xiàn)等多方面的問(wèn)題,這也是客戶(hù)投訴比較多的問(wèn)題。
在手機通話(huà)時(shí),由于人腦靠近手機天線(xiàn),將降低手機的發(fā)射和接收性能,手機整機輻射的發(fā)射和接收性能都會(huì )降低。在手機研發(fā)過(guò)程中應定量測量人腦對手機的發(fā)射和接收性能的影響,進(jìn)行優(yōu)化設計,使發(fā)射和接收性能降低不能太大,即減少人體和天線(xiàn)的電磁耦合效應。
為考察手機的輻射性能,除考察手機天線(xiàn)的無(wú)源性能之外,整機的有源性能也是一個(gè)重要的考察方面。當前整機有源性能越來(lái)越受到終端廠(chǎng)商的重視,因此在手機輻射性能的考察中應將兩種輻射性能綜合起來(lái)考慮。目前終端天線(xiàn)廠(chǎng)商在研發(fā)中一般都要求天線(xiàn)供應商提供無(wú)源和有源測試報告。

本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/201612/333975.htm

2.OTA 測試及手機其他的主要參數
2.1 OTA 測試中的主要測試參數及相關(guān)計算在OTA 測試中,輻射性能參數主要分為兩類(lèi):接收參數和發(fā)射參數。
發(fā)射參數有TRP、NHPRP;接收參數有TIS、NHPIS。
TRP(Total Radiated Power):通過(guò)對整個(gè)輻射球面的發(fā)射功率進(jìn)行面積分并取平均得到。它反映手機整機的發(fā)射功率情況,跟手機在傳導情況下的發(fā)射功率和天線(xiàn)輻射性能有關(guān)。
NHPRP(Near Horizon Partial Radiated Power):反映在手機的H面附近天線(xiàn)的發(fā)射功率情況的參數。
TIS(Total Isotropic Sensitivity):反映在整個(gè)輻射球面手機接收靈敏度指標的情況。它反映了手機整機的接收靈敏度情況,跟手機的傳導靈敏度和天線(xiàn)的輻射性能有關(guān)。
NHPIS(Near Horizon Partial Isotropic Sensitivity):反映手機在H面附近天線(xiàn)的接收靈敏度情況的參數。
對于手持終端,OTA 測試中還將考察終端在有模擬人頭情況下的上述參數,比較在有無(wú)模擬人頭情況下相關(guān)參數的變化情況。

2.2 其他有關(guān)的天線(xiàn)參數
在考察天線(xiàn)性能的時(shí)候,還有其他需要了解的參數如:APIP、Gain、Directivity、EIRP、ERP。
Gain(dBi):在相同的輸入功率下,天線(xiàn)在空間某點(diǎn)的輻射功率與理想無(wú)方向性點(diǎn)源天線(xiàn)在同一點(diǎn)的功率的比值,該增益單位為dBi,手機天線(xiàn)廠(chǎng)家提供的天線(xiàn)測試報告中的增益一般以dBi 為單位。
Gain(dBd):在相同的輸入功率下,天線(xiàn)在空間某點(diǎn)的輻射功率與理想半波偶極子天線(xiàn)最大輻射方向上功率的比值,該增益的單位為dBd。
Directivity:在相同的輻射功率下,某天線(xiàn)在空間某點(diǎn)產(chǎn)生的功率與理想無(wú)方向點(diǎn)源天線(xiàn)在同一點(diǎn)產(chǎn)生的功率的比值。
Efficiency:天線(xiàn)輻射功率和天線(xiàn)輸入功率的比值。
APIP(Antenna Port Input Power):加入到天線(xiàn)口的功率大小,是PA 輸出到天線(xiàn)口的功率大小。該功率大小主要跟手機的傳導發(fā)射功率大小有關(guān)。
EIRP(Effective Isotropic Radiated Power):等效全向輻射功率是天線(xiàn)得到的功率與天線(xiàn)以dBi 表示的增益的乘積,反映天線(xiàn)在各個(gè)方向上輻射的功率的大小。
PEIRP(Peak Effective Isotropic Radiated Power):峰值等效全向輻射功率。
ERP(Effective Radiated Power)的概念與EIRP 相同,但ERP 是天線(xiàn)得到的功率與以dBd 表示的增益的乘積。

3.OTA 測試中的TRP 和SAR 指標的制約關(guān)系
TRP 反映的是天線(xiàn)遠場(chǎng)的輻射性能,而SAR 反映是天線(xiàn)的近場(chǎng)輻射性能。對于OTA 中的TRP 指標,一般是希望其TRP 比較大,這樣從PA 出來(lái)進(jìn)入天線(xiàn)的功率才被有效輻射,無(wú)線(xiàn)接口的連接性才比較好。在SAR 測試中,則希望TRP 數值比較小,這樣被人腦吸收的功率才比較小,保證能通過(guò)SAR 測試標準。因此,TRP 指標與SAR 指標是一對相互矛盾的指標,在天線(xiàn)設計中如何保證兩個(gè)指標都達到相關(guān)的標準,滿(mǎn)足設計需要,在天線(xiàn)設計的之初就得考慮。

以下是一些解決措施:
(1)選用合適的天線(xiàn)形式,最為重要。比如內置天線(xiàn)中的Monopole 具有效率高但SAR 也高的特點(diǎn),因此在使用之前就應該對此有所認識,即Monopole 和人腦的耦合效應較強。PIFA 天線(xiàn)綜合性能較好,由于其靠近人腦的一側被PCB 的地遮擋,其高頻頻段在人腦方向比最大輻射方向有5-6dB的衰減,因此PIFA 天線(xiàn)的SAR 值比較低,是內置天線(xiàn)中比較理想的天線(xiàn)形式。
(2)在天線(xiàn)的設計之初就考慮SAR 問(wèn)題,主要在結構問(wèn)題上進(jìn)行設計,結合手機的結構選用合適形式的天線(xiàn),保證天線(xiàn)性能的同時(shí)還滿(mǎn)足通過(guò)SAR 指標,比如采取將天線(xiàn)放置于PCB 的底部等措施。對于外置式的螺旋天線(xiàn)一般應注意天線(xiàn)與人腦之間的距離,保證滿(mǎn)足SAR 測試的需要。
(3)在設計后期發(fā)現SAR 測試超標,可通過(guò)調低天線(xiàn)性能的方式解決,如使用損耗稍大的材料等方法,這需要與天線(xiàn)廠(chǎng)家配合進(jìn)行。
(4)更改天線(xiàn)走線(xiàn)方式,調整方向圖等措施。
(5)在標準允許的情況下,降低PA 的輸出功率。
以上方法是在滿(mǎn)足SAR 和TRP 測試需要的情況下,取得兩者的折中。

4.總結
CTIA 的OTA 測試指標直接反映了手機的輻射性能,因此越來(lái)越受到測試機構和相關(guān)廠(chǎng)商的重視。在手機天線(xiàn)指標判定時(shí),需要將無(wú)源和有源性能指標綜合考慮,對整機天線(xiàn)性能進(jìn)行綜合評價(jià)。
MORLAB的OTA天線(xiàn)測試暗室符合CTIA的OTA測試標準,測試系統采用的SG24的近場(chǎng)折算遠場(chǎng)測量方案,是目前最準確的天線(xiàn)測試方法。有重復性高,準確度高,解析度高等優(yōu)點(diǎn)。SG24 是全球少數能完全符合CTIA 要求的測試系統。能提供CTIA 所需要的TRP/TIS 測試。測試適用范圍:CTIA OTA (GSM900,DCS1800,Cellular 850,PCS1900);3D 天線(xiàn)場(chǎng)型測量、增益、天線(xiàn)效率、方向圖、極化性能。



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