如何用TDR來(lái)測試PCB板的線(xiàn)路阻抗

1、阻抗測試的行業(yè)標準

之前貼過(guò)好多張阻抗測試的圖片，重新再貼一張給大家看看。阻抗并不是想象中穩定的直線(xiàn)，而是波瀾起伏。在前端和后端會(huì )受到探頭或者開(kāi)路的影響，中間由于生產(chǎn)制程的關(guān)系，也會(huì )有波動(dòng)。

那么，我們怎么判斷測試結果呢？怎么確定生產(chǎn)的PCB阻抗是否滿(mǎn)足要求呢？首先來(lái)看看IPC規范，IPC2557A建議的測量區間是DUT的30%~70%區間。

再來(lái)看看Intel以及現在主流板廠(chǎng)的測試習慣，為了避開(kāi)Launch區域以及反射區域的影響，測試區間建議是DUT的50%到70%區域。

用TDR來(lái)測試線(xiàn)路阻抗，我們首先要了解測試區間的要求，才能準確理解測量得到的結果。

2、探頭對阻抗測試結果的影響

通常來(lái)說(shuō)，TDR測試的時(shí)候，會(huì )用以下幾種探頭：

其中，板廠(chǎng)通常會(huì )用手持探棒點(diǎn)測，Probe的影響呈現感性。SI實(shí)驗室常用SMA來(lái)連接測試線(xiàn)纜，SMA在阻抗測試中可能呈現容性。兩種探頭對測試結果的影響如下圖所示：

由于Probe的感性或者容性影響，最終DUT的測試結果會(huì )有一點(diǎn)點(diǎn)的偏差。