SAS互連阻抗及回波損耗測試

傳統的時(shí)域參數如阻抗、時(shí)延差的測試需要基于采樣示波器的TDR測試功能；而傳統的頻域參數如插入損耗、回波損耗、串擾等S參數的測試需要矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀。由于很多場(chǎng)合時(shí)域和頻域測試都是同時(shí)需要的，所以可以采用基于矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀并擴展了TDR功能的一體化解決方案，如Keysight的ENA-TDR方案，其可以同時(shí)完成頻域、時(shí)域和眼圖的測量。測試方案如下圖所示。

基于矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀的時(shí)域反射TDR功能操作類(lèi)似傳統的基于采樣示波器的TDR儀器，但相對于傳統TDR，它有如下特點(diǎn)：

· 基于VNA的結構，內部很容易實(shí)現ESD保護電路，正弦波激勵信號在測量時(shí)會(huì )掃過(guò)VNA 的整個(gè)測量頻率范圍，測量結果從輸入與輸出信號的矢量比中得到。因此，即使保護電路會(huì )導致部分損耗，使用矢量比也可以消除這些損耗，從而確保測量精度不受影響可以確保產(chǎn)品的可靠工作，但采樣示波器TDR由于內部ESD保護電路會(huì )降低階越發(fā)生器的性能，采樣示波器TDR內部不使用ESD保護電路，所以非常容易因為ESD損壞。

· ENA-TDR的用戶(hù)界面經(jīng)過(guò)重新設計，和傳統的TDR設備使用方式類(lèi)似，使現在的數字工程師可以輕松、直觀(guān)地進(jìn)行操作，使用戶(hù)可以同時(shí)進(jìn)行時(shí)域阻抗和頻域S參數測量以及靈活地選擇參數。它能夠生成仿真眼圖，在互連測試階段不需要使用額外的碼型發(fā)生器，因此可以降低擁有成本。

· 由于基于采樣示波器的噪聲相對網(wǎng)絡(luò )儀來(lái)說(shuō)較大，同時(shí)實(shí)現高動(dòng)態(tài)范圍和快速測量具有一定難度，需要通過(guò)取平均法可以降低噪聲，但是這會(huì )影響測量速度。ENA-TDR 具有>100 dB 動(dòng)態(tài)范圍，以觀(guān)察 DUT 的真實(shí)性能?？梢宰R別極低電平信號，如差分器件的串擾和模式轉換。具有極低的噪聲，當IFBW 為 70 kHz 時(shí)，小于0.023 dBrms，用于精確和可重復的測量，基本可以忽略?xún)x器自身的底噪聲成分。

· 現在很多規范比如說(shuō)SAS要求測試Hot TDR，也就是在上電工作狀態(tài)下測試TDR，比如SATA要求測試MFTP下的阻抗，由于采樣示波器TDR采用寬帶接收機，在有輸入信號的情況下，需要加更多的平均以反映階約信號的反射特性，而網(wǎng)絡(luò )儀使用窄帶接收機，可以準確接受掃頻信號頻點(diǎn)，不需要加平均也可以正確接收并測量反射特性。