如何使用直接阻抗法測量晶振負載諧振頻率

　　對晶振的負載諧振頻率進(jìn)行測量有很多種方法，直接阻抗法就是其中一種，它使用網(wǎng)絡(luò )分析儀，比物理負載電容法等其它方法更加準確、方便并且成本更低。本文介紹如何使用直接阻抗法進(jìn)行測量并通過(guò)實(shí)測數據說(shuō)明它好于其它測量方法的原因。

　　在 晶振參數測量中，由于Fs和Fr阻抗相對較低，按IEC 444和EIA 512進(jìn)行Fs/Fr測量沒(méi)有什么困難，問(wèn)題主要在于負載諧振頻率(FL)的測量，特別是負載電容(CL)很低的時(shí)候。晶振在負載諧振頻率處阻抗相對較高，用50Ω網(wǎng)絡(luò )分析儀測量較高阻抗要求測量設備具備很高穩定性和高精度，一般來(lái)說(shuō)這樣的要求不切實(shí)際，成本太高，因此技術(shù)人員又開(kāi)發(fā)了幾種負載諧振頻率測量方法，如計算法、物理負載電容法等，這些方法設計用于測量低阻抗晶振，這樣就可使用低精度設備。我們下面先對各種方法作一比較。

　　負載諧振頻率測量法

　　1. 計算法

　　根據IEC 444規定，被測器件(DUT)在約±45°對其動(dòng)態(tài)參數進(jìn)行測量，負載諧振頻率根據±45°數據“計算”得到。

　　該方法的優(yōu)點(diǎn)在于被測器件在相對較低阻抗即接近25Ω處進(jìn)行測量，因此測試對寄生分量的軟件補償要求相對簡(jiǎn)單。它的缺點(diǎn)在于被測器件不是在最終使用條件下進(jìn)行測試，即不在相移等于規定的CL/FL處進(jìn)行測試，如果晶振性能?chē)栏褡裱钠骷Ｐ?，那么這個(gè)方法也是可以接受的，但當晶振是非線(xiàn)性時(shí)(即不符合四器件模型)，FL的測量就不夠精確。

　　如果已經(jīng)知道被測器件是一個(gè)線(xiàn)性晶振，則可以使用這個(gè)方法來(lái)測量;但在大多數場(chǎng)合下，需要先有一個(gè)測試方法來(lái)告訴你它是否是線(xiàn)性的，所以計算法不實(shí)用，除非你在測試前已經(jīng)知道晶振是線(xiàn)性的。

　　那么晶振的線(xiàn)性度究竟有什么影響呢?從電路應用觀(guān)點(diǎn)來(lái)看，只要晶振有一穩定(可重復)明確的阻抗-頻率曲線(xiàn)，并且在振蕩器中功能正常，它就是一個(gè)好晶振，是不是線(xiàn)性沒(méi)有關(guān)系，非線(xiàn)性晶振并不意味著(zhù)是一個(gè)壞晶振。

　　而晶振設計人員則認為，市場(chǎng)趨勢是向小型化方向發(fā)展，如AT帶狀晶振和SMD晶振，與大的圓形晶振不同，小型晶振采用矩形坯料，此時(shí)再應用四器件模型比較困難。不過(guò)測量有問(wèn)題并不表示它是一個(gè)壞晶振，只不過(guò)還需要一些能夠在不涉及非線(xiàn)性條件更精確測量晶振的測試方法或系統，以提供更多信息，如寄生模式在不同溫度下對晶振性能的影響情況等。

　　從晶振測量角度來(lái)看，計算法不適用于測試非線(xiàn)性晶振，因為測量精確度取決于晶振特性，而它的差異很大，如果存在其它適用的測試手段就應該放棄使用這種方法

　　2. 物理負載電容法

　　如IEC 444標準所述，該方法的基本概念是用一個(gè)實(shí)際電容與晶振串聯(lián)，然后在指定負載電容下測量晶振，并對兩者同時(shí)進(jìn)行測量。這與計算法相比是一個(gè)很大的改進(jìn)，因為沒(méi)有過(guò)多估計，而且網(wǎng)絡(luò )分析儀是在相對較低的阻抗上測量負載諧振頻率。

　　該方法已被廣泛采用，它有下面一些優(yōu)點(diǎn)：

　　·相比于計算法，負載諧振頻率具有良好的可重復性。

　　·不同機器之間可通過(guò)調整物理負載電容很容易實(shí)現一致，無(wú)需改變任何軟件參數，只要有一張按不同用戶(hù)、供應商、設備、頻率、測試前端配置等做出的負載電容對照表即可。

　　·測量速度較快

　　但它也有一個(gè)明顯的缺點(diǎn)，即串聯(lián)諧振頻率(Fr)、諧振電阻(Rr)和靜態(tài)電容(Co)值不能通過(guò)一次測試精確得到，被測器件必須測兩次，即裝上和不裝負載電容進(jìn)行測試，這樣所有參數才能達到一定的精度，但這些測量在做完驅動(dòng)電平相關(guān)性(DLD)和寄生模式測量后非常困難(根據IEC 444-6，DLD和寄生測量?jì)烧叨际腔诖袦y量而不是負載測量的)。

　　物理負載電容法的問(wèn)題是，如果我們更深入地看一下它的“優(yōu)點(diǎn)”就會(huì )問(wèn)，如果它足以進(jìn)行精確測量，那為什么還要查負載電容表呢?答案顯而易見(jiàn)：這個(gè)方法還不夠好，但因為看起來(lái)沒(méi)有其它更好的方法，所以我們只能接受它。

　　該方法之所以難于達到所需的精確度是因為：

　　·寄生分量(CX和CY)對精度的影響很大，并且很難補償。

　　·IEC 標準定義了一個(gè)具有最小寄生分量(CX和CY)的“理想”測試夾具，但“理想”測試夾具不適用于大批量自動(dòng)測量，所以“最小寄生”很難得到。由于寄生分量過(guò)大，“理想”測試夾具中可變負載電容會(huì )危及夾具的“理想”狀態(tài)。·許多工程師作了很多努力試圖補償CX和CY以達到一個(gè)可接受的水平，但一切努力都無(wú)果而終。

　　·更深入地看一下問(wèn)題的實(shí)質(zhì)會(huì )發(fā)現，寄生分量并不限于CX和CY，它可能包括具有LX和LY等的整個(gè)電路，這就是為什么我們使用的表也將頻率列為一個(gè)變量。

　　該方法主要技術(shù)難點(diǎn)在于，有關(guān)校正物理負載電容以及在晶振與電容結合處補償寄生電容和電感的技術(shù)問(wèn)題仍然有很大部分沒(méi)有解決。

直接阻抗法

　　從電路應用的觀(guān)點(diǎn)看，如果要求加上指定負載電容后達到負載諧振頻率，意味著(zhù)晶振必須在規定的負載諧振頻率處表現為一個(gè)電感，即被測器件阻抗=-負載電容阻抗。

　　這是一個(gè)基本要求，只要有可能晶振應在完全符合這一要求的條件下進(jìn)行測試，而不應有任何估計，直接阻抗方法就是基于這一基本原則。直接阻抗法的測試設置非常簡(jiǎn)單，

　　·將被測器件放入π型網(wǎng)絡(luò )測試前端。

　　·使用與IEC444測量Co、Fr和Rr相同的硬件配置。

　　·將頻率綜合儀的頻率反復搜索直到被測器件阻抗=-負載電容阻抗。

　　·根據FL、Fr和Co計算其它動(dòng)態(tài)參數L1和C1。

　　這種方法的主要優(yōu)點(diǎn)是在最終使用的負載電容條件下測量晶振，沒(méi)有太多估計，因此就算晶振是非線(xiàn)性也不會(huì )有什么問(wèn)題。

　　另外即使不知道負載電容也不必校正CX和CY(或者LX、LY等)，它能夠保證精度和再現性，不僅僅只是可重復性。同時(shí)Fr、Fs、FL、Rr和Rs全部一次測量完，使DLD和寄生響應測量更容易更精確。

　　使用這種方法時(shí)，還有其它一些考慮因素，包括：

　　1.軟件校正和寄生分量補償

　　IEC 444標準不要求用軟件技術(shù)進(jìn)行明確的寄生分量補償和校正，而是更依賴(lài)于完好的測試前端。因為沒(méi)有適當軟件補償，IEC 444標準只能用理想測試前端在低阻抗處進(jìn)行測量，但這樣一個(gè)具有最小寄生分量的測試前端在大批量生產(chǎn)中是不切實(shí)際的，這就是為什么大多數實(shí)際測量系統在一定程度上都使用了軟件技術(shù)補償寄生電抗分量。

　　直接阻抗測量法需要更全面的π型前端模型和大量數學(xué)計算，幸好如今的計算機/網(wǎng)絡(luò )分析儀的速度和成本能使這一要求得以實(shí)現。必須正確使用這種方法，否則系統將無(wú)法在測量高阻抗時(shí)得到良好的重復性、再現性和精度。

　　2.驅動(dòng)電平

　　在測量負載諧振頻率時(shí)，直接阻抗法所需電壓幅值要比用同樣硬件設置的其它方法大得多。好在測量Fr/Fs時(shí)也可以獲得同樣的驅動(dòng)電平，因此驅動(dòng)電平相關(guān)性和寄生比率測試能夠非常精確，為質(zhì)量差的晶振提供了安全防護。此外加上一個(gè)商用功率放大器后(成本在幾百美元到上千美元之間)，該方法的實(shí)用驅動(dòng)電平在CL =20pF、20MHz條件下可高達400mW以上。

　　無(wú)源測量驅動(dòng)電平的精度(IEC444和EIA512標準)一直有著(zhù)一個(gè)問(wèn)題，即在通常一秒鐘測試時(shí)間中，大多數迭代搜索并沒(méi)有將目標驅動(dòng)功率加在被測器件上，而是直到測最后幾個(gè)讀數時(shí)才可能施加目標驅動(dòng)功率，但這些讀數只有幾毫秒或幾分之一毫秒的時(shí)間。上述所有測試方法都有這樣的問(wèn)題。

　　測試數據比較

　　我們采用直接阻抗測量法，但使用不同的網(wǎng)絡(luò )分析儀、測試前端、頻率和負載電容進(jìn)行測量，用得到的測試數據來(lái)驗證測試方法的效果。

　　對于重復性和再現性測試，我們使用的裝置包括：

　　·兩種網(wǎng)絡(luò )分析儀，分別是HP E5100A和Kolinker KH1200，兩者都裝有內部頻率參考，并進(jìn)行過(guò)熱機和校正。

　　·四種測試夾具，編為1號到4號，包括一個(gè)符合IEC標準的夾具和三個(gè)適用于批量生產(chǎn)的夾具。

　　·一個(gè)11.150MHz HC49US晶振，對于Fs和FL在CL=10、20和30pF時(shí)用上述網(wǎng)絡(luò )分析儀和測試夾具分別組合，每個(gè)組合測1,400次。

　　對于精度測試，除了使用上面的測試數據外，還有些其它條件：

　　·使用物理負載電容法，用一個(gè)8.725pF固定負載電容，對主要參數不使用軟件補償。

　　·使用物理負載電容法，用一個(gè)可變負載電容，調至10pF，對主要參數不使用軟件補償。

　　對于重復性和再現性，顯示出直接阻抗法重復性和再現性都很好，對Ts大至30到40ppm/pF的晶振，在|0.2pF|范圍內結果良好。對于精度，表3顯示這種方法相對于理想測試夾具(小寄生分量)能得到更好的精度(在|0.2pF|內良好)，但對于使用非理想測試夾具的物理負載電容法(可變負載電容，大寄生分量)兩者無(wú)法比較。

　　這些數據顯示直接阻抗法由于在不同硬件配置下的重復性、再現性和精度而值得更多關(guān)注，但是還應該進(jìn)行多一些試驗以驗證不同頻率標準所造成的誤差及不同晶振樣品(有諧波、故意選擇的非線(xiàn)性晶振等)所造成的誤差。

　　本文結論

　　根據上面的原理和試驗數據，我們建議對直接阻抗測量法進(jìn)行更多研究工作，以求進(jìn)一步提高IEC444 和 EIA512測量標準。

　　上面的討論關(guān)注負載諧振頻率的測量精度是因為這是晶振業(yè)界很頭疼的事情。我們應該記住直接測量法還能提供精確的Fs、Fr、Co和ESR，這意味著(zhù)在一次通過(guò)測試中我們可測試所有晶振參數，包括DLD、寄生模式、Q值等，無(wú)需再插入或改變任何負載電容。應用該方法的設備市面上已經(jīng)出現，這類(lèi)設備能夠提供所有晶振參數的精確測量值，非常便于用戶(hù)使用，并且成本也很低。