集成電路技術(shù)匯總（一）：好壞判別方法

　　集成電路(Integrated Circuit，通常簡(jiǎn)稱(chēng)IC) ，是指將很多微電子器件集成在芯片上的一種高級微電子器件。通常使用硅為基礎材料，在上面通過(guò)擴散或滲透技術(shù)形成N型和P型半導體及P-N結。實(shí)驗室中也有以砷化鎵(GaAs)為基材的芯片，性能遠超硅芯片，但是不易量產(chǎn)，價(jià)格過(guò)高。

　　集成電路是半導體集成電路，即以半導體材料為基片，將至少有一個(gè)是有源元件的兩個(gè)以上元件和部分或者全部互連線(xiàn)路集成在基片之中或者基片之上，以執行某種電子功能的中間產(chǎn)品或者最終產(chǎn)品；

　　集成電路的種類(lèi)一般是以?xún)群w管等電子組件的數量來(lái)分類(lèi)。

　　· SSI (小型集成電路)，晶體管數 10~100

　　· MSI (中型集成電路)，晶體管數 100~1，000

　　· LSI (大規模集成電路)，晶體管數 1，000~10，0000

　　· VLSI (超大規模集成電路)，晶體管數 100，000~

　　集成電路布圖設計是指集成電路中有一個(gè)是有源元件的兩個(gè)以上和部分或者全部互連線(xiàn)路的三維配置，或者為制造集成電路而準備的三維配置。

　　集成電路的好壞判別方法。

　　一、不在路檢測

　　這種方法是在ic未焊入電路時(shí)進(jìn)行的，一般情況下可用萬(wàn)用表測量各引腳對應于接地引腳之間的正、反向電阻值，并和完好的ic進(jìn)行 較。

　　二、在路檢測

　　這是一種通過(guò)萬(wàn)用表檢測ic各引腳在路(ic在電路中)直流電阻、對地交直流電壓以及總工作電流的檢測方法。這種方法克服了代換試驗法需要有可代換ic的局限性和拆卸ic的麻煩，是檢測ic最常用和實(shí)用的方法。

　　1.直流工作電壓測量

　　這是一種在通電情況下，用萬(wàn)用表直流電壓擋對直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進(jìn)行測量；檢測ic各引腳對地直流電壓值，并與正常值相 較，進(jìn)而壓縮故障范圍， 出損壞的元件。測量時(shí)要注意以下八 ：

　　(1)萬(wàn)用表要有足夠大的內阻， 少要大于被測電路電阻的10倍以上，以免造成較大的測量誤差。

　　(2)通常把各電位器旋到中間位置，如果是電視機，信號源要采用標準彩條信號發(fā)生器。

　　(3)表筆或探頭要采取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞ic?？刹扇∪缦路椒ǚ乐贡砉P滑動(dòng)：取一段自行車(chē)用氣門(mén)芯套在表筆尖上，并長(cháng)出表筆尖約0.5mm左右，這既能使表筆尖良好地與被測試點(diǎn)接觸，又能有效防止打滑，即使碰上鄰近點(diǎn)也不會(huì )短路。

　　(4)當測得某一引腳電壓與正常值不符時(shí)，應根據該引腳電壓對ic正常工作有無(wú)重要影響以及其他引腳電壓的相應變化進(jìn)行分析， 能判斷ic的好壞。

　　(5)ic引腳電壓會(huì )受外圍元器件影響。當外圍元器件發(fā)生漏電、短路、開(kāi)路或變值時(shí)，或外圍電路連接的是一個(gè)阻值可變的電位器，則電位器滑動(dòng)臂所處的位置不同，都會(huì )使引腳電壓發(fā)生變化。

　　(6)若ic各引腳電壓正常，則一般認為ic正常；若ic部分引腳電壓異常，則應從偏離正常值最大處入手，檢查外圍元件有無(wú)故障，若無(wú)故障，則ic很可能損壞。

　　(7)對于動(dòng)態(tài)接收裝置，如電視機，在有無(wú)信號時(shí)，ic各引腳電壓是不同的。如發(fā)現引腳電壓不該變化的反而變化大，該隨信號大小和可調元件不同位置而變化的反而不變化，就可確定ic損壞。

　　(8)對于多種工作方式的裝置，如錄像機，在不同工作方式下，ic各引腳電壓也是不同的。

　　2.交流工作電壓測量法

　　為了掌握ic交流信號的變化情況，可以用帶有db插孔的萬(wàn)用表對ic的交流工作電壓進(jìn)行近似測量。檢測時(shí)萬(wàn)用表置于交流電壓擋，正表筆插入db插孔；對于無(wú)db插孔的萬(wàn)用表，需要在正表筆串接一只0.1～0.5μf隔直電容。該法適用于工作頻率 較低的ic，如電視機的視頻放大級、場(chǎng)掃描電路等。由于這些電路的固有頻率不同，波形不同，所以所測的數據是近似值，只能供參考。

　　3.總電流測量法

　　該法是通過(guò)檢測ic電源進(jìn)線(xiàn)的總電流，來(lái)判 ic好壞的一種方法。由于ic內部絕大多數為直接耦合，ic損壞時(shí)(如某一個(gè)pn結擊穿或開(kāi)路)會(huì )引起后級飽和與截止，使總電流發(fā)生變化。所以通過(guò)測量總電流的方法可以判 ic的好壞。也可用測量電源通路中電阻的電壓降，用歐姆定律計算出總電流值。