STM32的ADC精度說(shuō)明
在閱讀這個(gè)數據手冊中各個(gè)參數時(shí),首先必須搞清楚這些參數是如何得到的。根據手冊中5.1.1節和5.1.2節的說(shuō)明,有些參數是在一定條件下在生產(chǎn)線(xiàn)上測試得到,有些則是根據樣本測試后推算得出。下面這段話(huà)是5.1.1節和5.1.2節的譯文摘錄:
5.1.1 最小和最大數值
除非特別說(shuō)明,在生產(chǎn)線(xiàn)上通過(guò)對100%的產(chǎn)品在環(huán)境溫度TA=25℃和TA=TAmax下執行的測試(TAmax與選定的溫度范圍匹配),所有最小和最大值將在最差的環(huán)境溫度、供電電壓和時(shí)鐘頻率條件下得到保證。
在每個(gè)表格下方的注解中說(shuō)明為通過(guò)推算、設計模擬和/或工藝特性得到的數據,不會(huì )在生產(chǎn)線(xiàn)上進(jìn)行測試;在推算的基礎上,最小和最大數值是通過(guò)樣本測試后,取其平均值再加減三倍的標準分布(平均±3∑)得到。
5.1.2 典型數值
除非特別說(shuō)明,典型數據是基于TA=25℃和VDD=3.3V(2V ≤ VDD ≤ 3.3V電壓范圍)。這些數據僅用于指導設計而未經(jīng)測試。
典型的ADC精度數值是通過(guò)對一個(gè)標準的批次采樣,在所有溫度范圍下測試得到,95%的產(chǎn)品誤差小于等于給出的數值(平均±2∑)。
再看下面兩張表,在25℃且VDDA = 3V~3.6V時(shí),典型誤差可達±1.3LSB,最大可達±2LSB;在所有溫度范圍內且VDDA=2.4V~3.6V時(shí),典型誤差可達±2LSB,最大可達±5LSB。

關(guān)于ET、EO、EG、ED、EL的意義和關(guān)系見(jiàn)下圖(此圖是手冊中的圖29):

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