JATG調試器詳解

通常所說(shuō)的JTAG大致分兩類(lèi)：
一類(lèi)用于測試芯片的電氣特性，檢測芯片是否有問(wèn)題；
一類(lèi)用于Debug；
一般支持JTAG的CPU內都包含了這兩個(gè)模塊。
一個(gè)含有JTAG Debug接口模塊的CPU，只要時(shí)鐘正常，就可以通過(guò)JTAG接口訪(fǎng)問(wèn)CPU的內部寄存器和掛在CPU總線(xiàn)上的設備，如FLASH，RAM，SOC（比如4510B，44Box，AT91M系列）內置模塊的寄存器，象UART，Timers，GPIO等等的寄存器。
上面說(shuō)的只是JTAG接口所具備的能力，要使用這些功能，還需要軟件的配合，具體實(shí)現的功能則由具體的軟件決定。
下面我首先介紹一個(gè)JTAG幾條線(xiàn)的作用：
Test Clock Input(TCK)
TCK為T(mén)AP的操作提供了一個(gè)獨立的、基本的時(shí)鐘信號，TAP的所有操作都是通過(guò)這個(gè)時(shí)鐘信號來(lái)驅動(dòng)的，TCK在IEEE 1149.1標準里是強制要求的。
Test Mode Selection Input(TMS)
TMS信號用來(lái)控制TAP狀態(tài)機的轉換。通過(guò)TMS信號，可以控制TAP在不同的狀態(tài)間互相轉換。TMS信號在TCK的上升沿有效。TMS在IEEE 1149.1標準里是強制要求的。
Test Data Input(TDI)
TDI是數據輸入的接口，所有要輸入到特定寄存器的數據都是用過(guò)TDI接口一位一位串行輸入的(由TCK驅動(dòng))，TDI在IEEE 1149.1標準里是強制要求的。
Test Data Output(TDO)
TDO是數據輸出的接口。所有要從待定的寄存器中輸出的數據都是通過(guò)TDO接口一位一位串行輸出的(由TCK驅動(dòng))。TDO在IEEE 1149.1標準里是強制要求的。
Test Reset Input(TRST)
TRST可以用來(lái)對TAP Controller進(jìn)行復位(初始化)。不過(guò)這個(gè)信號接口在IEEE 1149.1標準里是可選的，并不是強制要求的。通過(guò)TMS可以對TAP Controll進(jìn)行復位(初始化)。所以有四線(xiàn)JTAG和五線(xiàn)JATG之分