NI STS增強了RF測量功能，進(jìn)一步降低半導體測試成本

　　作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商，NI(美國國家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI)今日宣布為半導體測試系統(STS)增加了全新的RF功能，使其可提供更高的收發(fā)功率、以及基于FPGA的實(shí)時(shí)包絡(luò )跟蹤(Envelop Tracking)和數字預失真處理(Digital Pre-Distortion)。

　　STS的其中一個(gè)最新改進(jìn)功能是高功率RF端口，可幫助RF前端模塊制造商滿(mǎn)足RFIC及其他智能設備不斷增加的測試需求，同時(shí)降低測試成本。 由于RF端口位于一個(gè)與STS完全集成的測試裝置，因此RF測試開(kāi)發(fā)時(shí)間和成本可大幅降低，而且不會(huì )犧牲測量精度和性能。 此外，這個(gè)集成的系統避免了傳統自動(dòng)化測試設備(ATE)所需的成本高昂的螺栓連接式RF子系統。

　　由于越來(lái)越多的組件集成到RF前端模塊以及新的寬帶無(wú)線(xiàn)標準具有更高的峰均功率比，這些器件的制造商需要更高功率的RF測量能力。 用于STS的新RF端口對于RF盲插接口具有+38 dBm的發(fā)射功率和+40 dBm的接收功率，這是其他任何商業(yè)解決方案所不具備的領(lǐng)先能力。 此外，STS附帶有功能完備的軟件，可以執行26 GHz的S參數測量、基于FPGA的包絡(luò )跟蹤和基于FPGA的數字預失真處理。 這些特性使得STS成為下一代RFIC的理想生產(chǎn)測試解決方案。

　　“我們持續為RF和混合信號器件制造商提供更智能的解決方案，不斷打破半導體ATE的現狀，”NI半導體測試副總裁Ron Wolfe表示， “STS開(kāi)放的模塊化架構可幫助用戶(hù)在保有其資本投資的同時(shí)，能夠不斷利用最新的商業(yè)技術(shù)，使其測試能力滿(mǎn)足待測設備不斷變化的需求。”

　　STS于2014年首次推出，為半導體生產(chǎn)測試提供了一個(gè)變革性的方法，該方法基于NI平臺和生態(tài)系統，可幫助工程師開(kāi)發(fā)更智能的測試系統。 這個(gè)平臺現在包含1 GHz帶寬的矢量信號收發(fā)儀、fA級源測量單元、業(yè)界領(lǐng)先的商用現成測試管理軟件TestStand半導體模塊，以及囊括直流到毫米波范圍的600多款PXI產(chǎn)品。 平臺采用了PCI Express Gen 3總線(xiàn)接口，具有高吞吐量數據傳輸能力，同時(shí)利用集成定時(shí)和觸發(fā)的方式實(shí)現了亞納秒級的同步。 用戶(hù)可以利用LabVIEW和NI TestStand軟件的高效生產(chǎn)力，以及一個(gè)由合作伙伴、附加IP和應用工程師組成的充滿(mǎn)活力的生態(tài)系統，大幅降低測試成本，縮短上市時(shí)間，開(kāi)發(fā)面向未來(lái)的測試設備來(lái)滿(mǎn)足未來(lái)的各種嚴苛需求。