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EEPW首頁(yè) > 嵌入式系統 > 設計應用 > pic單片防靜電能力及防靜電技術(shù)

pic單片防靜電能力及防靜電技術(shù)

作者: 時(shí)間:2016-08-19 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò ) 收藏

  關(guān)于16F914抗靜電放電。。。。。。

本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/201608/295755.htm

  最近做了個(gè)項目,用16F914,就幾個(gè)按鍵,幾個(gè)數碼管,幾個(gè)輸入信號(數字信號)處理。板子脈沖群測試很好,4kV都沒(méi)問(wèn)題。就是靜電放電,耦合怎么打都過(guò)不了6kV,以前用過(guò)的16F72,16F73,16C57都很好15kV輕松過(guò),各位達人有什么高招啊,謝謝~~

  試過(guò)方案:

  1:MCLR上拉10k、串聯(lián)一個(gè)1k電阻,0.1uf電容到地。

  2:MCLR上拉1k、串聯(lián)一個(gè)200電阻,0.1uf電容到地。

  3:MCLR上拉1k、0.1uf電容到地。

  4:MCLR上拉4.7k、串聯(lián)一個(gè)1k電阻,0.1uf電容到地。

  5:禁止MCLR,MCLR腳下拉一個(gè)1k電阻到地,電阻并一0.1uf電容。

  以上都試過(guò),怎么也打不過(guò)去,實(shí)在不行我只好換16F74+24C02來(lái)搞了,暈,代碼都寫(xiě)好了。。

  PCB我布的比較小心,應該沒(méi)什么問(wèn)題啊,我用過(guò)的AVR的EFT,ESD測試都是超強啊,PIC的16fxxx怎么會(huì )這樣呢,是不是還有什么沒(méi)注意到啊?

  打一下數碼管就黑一下,單片機復位,暈實(shí)在暈表現和以前16F57 時(shí)如出一轍。。。

  單片機接去耦電容了嘛?

  接在什么地方,遠嗎?

  加了,0.1uf+10uf很近,近的不能在近了,PCB嚴格按照單片機常用的布線(xiàn)方法。

  建議增加EMC技術(shù)專(zhuān)欄,現在新出的一些片子功能很不錯可是16F***抗干擾都很垃圾,我現在都不敢用這些新片子。主要是靜電放電,以前microchip的客服跟我說(shuō)在輸入口串一個(gè)1k電阻,我想如果這樣的話(huà)那設計真的需要很小心(芯片外圍包者一圈電阻???)。我用PIC三四年了,算是個(gè)老用戶(hù)了我現在很困惑,如果這個(gè)問(wèn)題得不到解決的話(huà),下次開(kāi)發(fā)新項目真不敢用了。因為這不是我第一次碰到這個(gè)問(wèn)題,而且我的兩位同事在不同的項目中也都碰到這個(gè)問(wèn)題了。。。。

  支持!數字產(chǎn)品的抗干擾問(wèn)題確實(shí)是最讓人頭痛的。

  難道這個(gè)芯片出來(lái)這么久了就沒(méi)人用過(guò)嗎,用過(guò)的人就都很好嗎,沒(méi)出過(guò)這樣的問(wèn)題嗎?

  我在用。但是我不懂這些,呵呵。

  我的項目對抗干擾要求也很高??戳诉@個(gè)有點(diǎn)怕,靜電的不管,希望不要干擾到我的信號。。。

  脈沖群測試是用什么設備?直接打電源么.

  靜電放電選用的是什么設備?

  輸入信號端口抗干擾測試是用什么設備?

  搞笑帖,多從自己身上找問(wèn)題把……

  俺大把大把用著(zhù)PIC16F913/914呢,沒(méi)有你說(shuō)的問(wèn)題……

  1樓說(shuō)的AVR的ESD性能比PIC16F91X強的觀(guān)點(diǎn)只是你個(gè)人的看法,AVR的ESD是它的一個(gè)軟肋,AVR的MEGA系列印象中似乎只有 MEGA16比較好一點(diǎn),這你可以直接從AVR提供的手冊中查到數據。

  對于MCU來(lái)說(shuō),PIC的ESD性能遠遠比AVR強的,你那是氣隙放電,所以可以用15KV測試,我手上的靜電槍可以打到30KV,一般設計得當,過(guò)20KV是沒(méi)問(wèn)題的。

  在這談?wù)勱P(guān)于靜電處理的常見(jiàn)方法,對付靜電一般有如下幾招:

  1:要有足夠的地面積,有了足夠的地面積,還要注意要保證有足夠小的地阻抗。

  這可以從干擾的本質(zhì)說(shuō)起,干擾的實(shí)質(zhì)是快速變化的電壓或電流,歸結到最好其實(shí)就是快速變化的電流引起‘地’的不穩定,當地阻抗越小,其能承受的干擾等級就越強,當地阻抗為理想的0阻抗時(shí),就沒(méi)有了干擾這個(gè)說(shuō)法。

  所以,這是第一注意的,一般布線(xiàn)規則強調地線(xiàn)要盡量粗點(diǎn),也就基于此,當地線(xiàn)盡量粗,只是一種美好愿望,因為PCB都是有尺寸限制的,所以我們此時(shí)要學(xué)會(huì )計算地阻抗。

  計算方法?

  不需要真正的去計算,如果需要那么麻煩的去計算,就需要數學(xué)建模,這個(gè)模型還不一定準確,現在的電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)時(shí)間就是生命,所以很多時(shí)候就得靠經(jīng)驗,經(jīng)驗怎么來(lái)?

  這。這。。這。。。這需要你自己去總結,歸納,試驗,但一般遵循以下的定理總是沒(méi)有錯,這個(gè)鼎鼎大名的定理就是歐姆定律,請自己思考一下地阻抗和歐姆定律的關(guān)系把……

  2:在地阻抗已經(jīng)是你能設計出的最小阻抗的情況下,我們已經(jīng)沒(méi)有辦法將地阻抗再降低了,此時(shí)還有干擾怎么辦?

  很簡(jiǎn)單啊,兩個(gè)字:距離,VCC和GND間有了距離所以安全,干擾和信號間有了距離可以平安,盡量增加可能引入干擾處的PCB到端口的距離,很多人布板的時(shí)候,喜歡鋪銅,鋪銅本身是一種良好的習慣,但不恰當的鋪銅卻會(huì )帶來(lái)問(wèn)題,例如,很多人鋪銅的時(shí)候,銅層過(guò)于靠近板邊緣,那么這就很危險,為什么?

  請想一想:測試靜電的時(shí)候,人們都習慣怎么做?

  找縫隙啊,找結構上的縫隙,如果鋪銅太靠近邊緣,你說(shuō)結果會(huì )是怎么樣的呢?

  3:如果上面兩點(diǎn)你都處理不好,怎么辦?

  嘿嘿,聽(tīng)說(shuō)過(guò)膠嗎?好象還有什么紙什么的……

  4:另外也要注意以下常規的硬件處理,產(chǎn)品的引入引出都需要做一些特別的處理,因為很容易從這個(gè)薄弱的地方引入干擾。

  5:軟件抗干擾?

  那當然了,但這個(gè)話(huà)題太大了,要引開(kāi)這個(gè)話(huà)題,那就太浪費俺的時(shí)間了,俺說(shuō)它三天三夜也說(shuō)不完,所以:不說(shuō)了……

  請自己思考把。

  給你一些靜電測試的案例參考一下(氣隙放電,按CE標準測試):

  MICROCHIP:一般都能做到15KV以上,但即使30KV測試,最多 MCU出現RST,在我的測試中未見(jiàn)擊穿。

  HOLTEK:一般能測試到8KV以上,超過(guò)15KV以后容易出現MCU被擊穿的現象。

  AVR:一般能也能測試到15KV以上,但不同型號間,還是有較多差異的,具體數據可參考ATMLE自己提供的一份有關(guān)接觸放電的測試報告,我的PC上沒(méi)有保留,可自己GOOGLE一下,超過(guò)20KV后偶爾出現擊穿現象。

  MOTO908系列:和PIC差不多,沒(méi)見(jiàn)到什么區別

  NEC:和AVR差不多,但不得不提的是,NEC的EFT測試比AVR要強一些(俺不喜歡日貨,但希望中肯的對它評價(jià)一下)

  ST:沒(méi)測試過(guò)它的ESD,因為俺沒(méi)用過(guò)這個(gè)廠(chǎng)家的MCU,但測試過(guò)一些廠(chǎng)家生產(chǎn)的樣機,主觀(guān)感覺(jué),質(zhì)量還可以

  NXP:比AVR差點(diǎn),但不是很明顯,一般產(chǎn)品,設計得當也沒(méi)什么問(wèn)題

  有一個(gè)4位機,相信大家可能有了解的,SINO也就是中穎,我用過(guò)69P42/43,KAO,EFT/ESD超猛,可惜是4位的,也可能正是因為是 4BIT,所以才能超猛……

  謝謝,yewuy,如你所說(shuō)我一直再自己身上找問(wèn)題。我想我還是具有一定的布板經(jīng)驗也參考了MICROCHIP的EMC文檔。啥也不說(shuō)了,我很快就移植到 16F74+24C02了,這個(gè)片子我以前測試過(guò)比較好,用實(shí)踐證明證明一下吧。AVR的我不知道你是怎么用的,但是AVR的復位端子加個(gè)電容后其EMC 性能確實(shí)不下PIC的16C57(我在實(shí)際項目中測試過(guò)的)。另外紙我不想考慮,如果到這個(gè)地步只能證明設計的失敗,那么我只想重來(lái)。

  俺也曾經(jīng)大把的用過(guò)16F74

  但16F74用的人似乎不多,出貨有的時(shí)候有問(wèn)題,而且16F74價(jià)格和性能都不怎么樣,所以,俺已經(jīng)淘汰它了……

  還有一個(gè)MCU俺沒(méi)說(shuō),那就是MSP430,這個(gè)東西比較嬌貴,但如果設計得當,也是沒(méi)問(wèn)題的,我以前吃過(guò)它的虧,開(kāi)始用的時(shí)候按照一些通用規則搞搞,測試結果沒(méi)達到俺的要求,后來(lái)認真研究研究它的一些結構,其實(shí)還是有辦法搞定它的……

  LS說(shuō)的在復位端加電容才能解決的問(wèn)題,說(shuō)實(shí)話(huà),這是一種很恐怖的事情,良好的設計應該是少掉一些東西性能沒(méi)有明顯下降才可以的,如果一個(gè)設計缺少某一個(gè)電容就出現如果大的性能差異,那恐怕會(huì )……

  不知道PSOC東西怎么樣,最近打算抽空搗鼓它……

  今天興致高,就再胡說(shuō)點(diǎn)……

  關(guān)于產(chǎn)品的EMC性能,很多人不知道如何處理,對著(zhù)死機或者復位的現象嘆息,往往不知道如何是硬件還是軟件才能解決問(wèn)題,其實(shí)簡(jiǎn)單點(diǎn),可以先從以下幾點(diǎn)思考:

  1:先確定是死機還是不斷的復位,如果在測試中發(fā)現不斷的復位,那么首先要處理的是硬件,一個(gè)系統你首先要保證你的軟件能跑起來(lái)才行,所以測試中連續不斷的復位只能說(shuō)明硬件設計不良。

  2:如果通過(guò)修改硬件可以達到在測試時(shí)不連續復位,但偶爾會(huì )死機怎么辦?

  基本上是軟件比較差,MCU一般都很忠實(shí)的執行指令的,考慮程序結構,異常處理等等去把……

  3:如果測試中出現偶爾復位,但不會(huì )死機怎么辦?

  這個(gè)情況比較復雜,但產(chǎn)品能做到這一步,說(shuō)明你已經(jīng)有一定的設計/分析能力,這需要你自己分析了,一般情況下,這個(gè)與硬件關(guān)聯(lián)多一些。

  4:要說(shuō)明一點(diǎn):在某種等級下出現例如偶爾復位不死機不等于加強測試不出現死機,所以要多種測試等級參考著(zhù)來(lái)

  5:完蛋了,怎么寫(xiě)著(zhù)寫(xiě)著(zhù),想睡覺(jué),最近休息不良……

  就說(shuō)F914 吧,復位端不加0.1uf電容的話(huà),你試過(guò)嗎,我昨天試過(guò)了EFT連1.8kV都沒(méi)過(guò),加了電容馬上過(guò)4kV。事實(shí)擺在眼前,不知該怎么解釋?我當然知道 F74的性?xún)r(jià)比了,否則我也不會(huì )一開(kāi)始用F914的了。MSP430我也測試過(guò),靜電有點(diǎn)麻煩,但最后加了一些措施也很容易過(guò)了,從測試的表現上看,比 914要強一些。測試標準符合GB/T17626.2,GB/T17626.4。

  PIC的片子用了很長(cháng)時(shí)間了,我用過(guò)和測試過(guò)的片子(16C57/CF775/16C54/16F72/16F73/16F877/16F873/16F630),一直都是比較信賴(lài)的,我想我肯定不是個(gè)高手,但決定不是菜鳥(niǎo)像我這樣的人可能代表了很大的一部分用戶(hù)。yewuyi 肯定是個(gè)高手,但是我就郁悶了,難道PIC的某些片子是給高手用的??914的這個(gè)問(wèn)題我會(huì )研究到底的,我只想弄明白。。。。。。

  呵呵,說(shuō)過(guò)笑話(huà),俺用PIC的MCU的時(shí)候,

  很多時(shí)候都沒(méi)焊接RST口那個(gè)104電容,我直接一個(gè)5K1的電阻到VCC,一直測試EFT都是 4KV/(2.5KHZ/5KHZ/100KHZ)

  不會(huì )因為少了一個(gè)104就那么脆弱的……

  如果是 PIC16C5X,樓上的接法過(guò)4kV我信,呵呵,但是是16F630或這個(gè)16F914MCLR腳的結構和PIC16C5X根本就不同,連 microchip本身也是推薦采用上拉10k串1k并0.1uf,事實(shí)也是證明如此。。。。。

  這是 datesheet里的描述

  看看datesheet里的描述吧

  附件: 您所在的用戶(hù)組無(wú)法下載或查看附件

  另外,我不是專(zhuān)業(yè)的EMC測試人員,對國標理解的不是很透我仔細查了IEC61000-4-2,發(fā)現IEC61000-4-2里明確規定的是放電頭接觸水平耦合板,我試過(guò)了,如果是接觸耦合板放電,那對產(chǎn)品根本就沒(méi)什么影響。但是如果是用圓頭靠近水平耦合板放出電火花,對產(chǎn)品影響很大,也就是說(shuō),這兩種測試方法對產(chǎn)品的影響有巨大的差異。我一直采用后者測試,用16f914的產(chǎn)品怎么都過(guò)不了6KV,今天剛好又測了另一個(gè)16F73做的產(chǎn)品,同樣的測試方法15kV一點(diǎn)問(wèn)題沒(méi)有(以前用16c54和16c57做的也輕松過(guò))。這兩個(gè)產(chǎn)品都是我做的,硬件線(xiàn)路幾乎一樣,只是規格不同,功能有所增減罷了(主要是軟件上)。還是擺在面前的事實(shí),不知這又如何解釋?

  門(mén)外漢關(guān)注中~呵呵~

  不過(guò),從字面來(lái)看,如果是近距離放電火花的話(huà),是不是牽涉到電磁波和電磁脈沖的問(wèn)題,從而產(chǎn)生更大的干擾?我完全不懂的,隨口胡說(shuō)的~

  Apollo 說(shuō)的串電阻的方法我知道,正在進(jìn)行中,希望能解決,但是有一點(diǎn)我還是不明白,是什么原因導致F914和原來(lái)的F73之間的差異性,是工藝原因嗎?

  呵呵,lijp8000 沒(méi)弄明白為什么可以不接那個(gè)104電容哦

  設計的時(shí)候都是有的,只是實(shí)際焊接的時(shí)候,工程人員有是會(huì )偷懶去掉,但即使去掉,一般也沒(méi)什么大問(wèn)題,因為本來(lái)是有等效電容存在的,另外,你的CONFIG要注意RST的配置,如果RST沒(méi)做別的用,就選擇內部復位好了,此時(shí)只用一個(gè)電阻到VCC,也沒(méi)什么大問(wèn)題了。

  ESD測試中,你那兩種方法都需要用,那一種失效都不能說(shuō)過(guò)了測試……

  在一些數字輸入口的布線(xiàn)上,要適當加一點(diǎn)曲線(xiàn),可變相等于串了一個(gè)小電感在上面,輸入口上一般限流電阻不要少,而且一般盡量靠近MCU部分,如果 PCB面積容許,在輸入口限流電阻前可適當考慮加個(gè)小電容到GND或者VCC

  F73可能是0.5工藝,F913可能是0.35工藝,這是猜測,未經(jīng)證實(shí)。

  至于你說(shuō)的原來(lái)的F73通過(guò),基本一樣的PCB,搞成F913就通不過(guò)的問(wèn)題,呵呵,這讓俺想起很久以前的一個(gè)說(shuō)法:PIC16F73簡(jiǎn)直就是垃圾,一樣的PCB,用PIC16C73好好的,換成PIC16F73就很差……

  呵呵,不同型號的MCU,可能薄弱環(huán)節不一樣,除非你原來(lái)的設計考慮得很周全,否則,可能在新的設計中,這個(gè)薄弱環(huán)節就露出來(lái)了……

  其實(shí)你也不急,出現問(wèn)題是好事情,這是提高自己的一次好機會(huì ),老不出現問(wèn)題,人就變的懶惰了,就沒(méi)什么動(dòng)力去研究問(wèn)題了,呵呵,關(guān)于這段話(huà),有點(diǎn)謬論了……



關(guān)鍵詞: pic 防靜電

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