NI將半導體ATE數字功能引入PXI平臺

　　NI(美國國家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI) 作為致力于幫助工程師和科學(xué)家應對全球最嚴峻的工程挑戰的平臺系統供應商，今日宣布推出了NI PXle-6570基于圖形向量的數字通道板卡和NI數字圖形向量編輯器。 該產(chǎn)品將射頻集成電路、電源管理IC、微機電(MEMS)系統設備以及混合信號IC的制造商從傳統半導體自動(dòng)化測試設備(ATE)的封閉式架構中解放出來(lái)。

　　傳統ATE的測試覆蓋率通常無(wú)法滿(mǎn)足最新半導體設備的要求。通過(guò)將半導體行業(yè)成熟的數字測試模式引入到基于PXI開(kāi)放平臺的半導體測試系統(STS)中,并使用功能強大且人性化的編輯器和調試器進(jìn)行優(yōu)化，用戶(hù)可以利用先進(jìn)的PXI儀器來(lái)降低射頻和模擬IC的測試成本并提高吞吐量。

　　“PXI數字模式儀器為半導體工程師提供所有高端數字測試平臺才具備的數字性能，因此它的問(wèn)世無(wú)疑是為STS錦上添花，” NI半導體測試副總裁Ron Wolfe表示， “如果生產(chǎn)車(chē)間的PXI具備這個(gè)功能，他們就可以在滿(mǎn)足先進(jìn)器件的成本和測試要求的同時(shí)，輕松將其擴展到其他產(chǎn)品的測試上。”

　　NI PXIe-6570數字模式儀器以非常實(shí)惠的價(jià)格為無(wú)線(xiàn)設備供應鏈和物聯(lián)網(wǎng)設備常用IC提供了所需的測試功能。它具有100 MVector/秒的圖形向量執行速率，在單個(gè)子系統中具有獨立的源、捕獲引擎、電壓/電流參數函數以及高達256個(gè)同步數字引腳。 用戶(hù)可充分利用PXI的開(kāi)放性和STS，根據需求任意地增加或減少所需的器件，以滿(mǎn)足測試配置所需的器件引腳和測試點(diǎn)數。

　　全新的數字模式編輯器軟件具有以下功能：器件引腳映射圖、規范和圖形向量編輯環(huán)境，有助于更快速地制定測試計劃;各種內置工具，如多站點(diǎn)和多儀器并行收發(fā)可實(shí)現產(chǎn)品從開(kāi)發(fā)到投產(chǎn)的無(wú)縫對接;shmoo圖和交互式引腳視圖等工具，可更高效地調試和優(yōu)化測試。

　　使用相同PXI硬件、TestStand、LabVIEW和數字模式編輯器軟件進(jìn)行特性分析和產(chǎn)品測試，可減少數據關(guān)聯(lián)所需的工作，從而縮短產(chǎn)品上市時(shí)間。 STS配置內外的PXI硬件占地空間小，可節省廠(chǎng)房空間，而且可使用特性分析實(shí)驗室臺上的標準墻插式電源供電。

　　“PXI已被證明是一個(gè)出色的軟硬件集成解決方案，可同時(shí)適用于產(chǎn)線(xiàn)車(chē)間和特性分析實(shí)驗室，”Wolfe補充道，“NI基于圖形向量的數字通道板卡和數字圖形向量編輯器是重要的創(chuàng )新產(chǎn)品，可幫助器件制造商和測試室降低測試成本以及優(yōu)化測試程序開(kāi)發(fā)。”

　　許多半導體公司正基于NI平臺和生態(tài)系統來(lái)構建智能化的測試系統。 不僅僅是生產(chǎn)適用的STS系列、1 GHz帶寬矢量信號收發(fā)儀，fA級源測量單元以及TestStand半導體模塊, 這些系統受益于覆蓋了直流到毫米波的600多款PXI產(chǎn)品。 它們采用PCI Express第三代總線(xiàn)接口，具有高吞吐量數據傳輸能力，同時(shí)具有子納秒級同步以及集成的定時(shí)和觸發(fā)。用戶(hù)可以利用LabVIEW和TestStand軟件環(huán)境的高效生產(chǎn)力，以及一個(gè)由合作伙伴、附加IP、應用工程師團隊組成的活躍生態(tài)系統，大幅降低測試成本，縮短上市時(shí)間，開(kāi)發(fā)面向未來(lái)的測試設備，滿(mǎn)足未來(lái)RF和混合信號測試的各種挑戰。

　　如需了解NI的更多半導體測試產(chǎn)品，請訪(fǎng)問(wèn)www.ni.com/semiconductor