NI發(fā)布2016自動(dòng)化測試趨勢展望，智能化測試系統勢在必行

　　作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)幫助他們應對全球最嚴峻工程挑戰的供應商，NI(美國國家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI)近日發(fā)布了《2016自動(dòng)化測試趨勢展望》。 這份年度測試和測量報告綜合概括了日益互聯(lián)化的自動(dòng)化測試環(huán)境的主要趨勢，主題涵蓋從毫米波(mmWave)通信到如何有效利用制造測試數據來(lái)提高商業(yè)績(jì)效。

　　“NI致力于不斷提高自動(dòng)化測試系統的性能，因此與客戶(hù)和供應商密切合作，借此深入了解制造與測試部門(mén)所面臨的主要挑戰，”NI自動(dòng)化測試市場(chǎng)營(yíng)銷(xiāo)總監Luke Schreier表示，“不論您的挑戰是測試數百萬(wàn)個(gè)物聯(lián)網(wǎng)設備還是管理已使用20年的測試系統，我們的目標就是激起貴公司的內部對話(huà)和討論，進(jìn)而幫助您降低測試成本以及保持競爭優(yōu)勢?！?/p>

　　《2016自動(dòng)化測試趨勢展望》探討了以下幾個(gè)主題：

　　計算： 采集生產(chǎn)測試數據

　　半導體行業(yè)率先采用實(shí)時(shí)數據分析來(lái)降低生產(chǎn)測試成本。

　　軟件： 生命周期管理的關(guān)鍵在于軟件

　　報廢、操作系統更新?lián)Q代以及兼容性給生命周期較長(cháng)的項目帶來(lái)重重挑戰 — 這個(gè)長(cháng)期懸而未決的問(wèn)題值得我們深入探究。

　　架構： 測試管理軟件的崛起

　　在新編程語(yǔ)言不斷涌現的情況下，采用現成測試執行軟件將是有效的解決辦法。

　　I/O： 從表征到生產(chǎn)的平臺標準化

　　RFIC公司在整個(gè)產(chǎn)品設計周期中通過(guò)IP復用和硬件標準化來(lái)降低成本和縮短產(chǎn)品上市時(shí)間。

　　商業(yè)戰略： 毫米波測試策略

　　測試經(jīng)理正在采用模塊化解決方案來(lái)高效、經(jīng)濟地驗證高頻組件。

　　訪(fǎng)問(wèn)www.ni.com/ato，下載完整的報告。