基于LabVIEW的熱舒服測試系統

　　4.2 系統功用測試后果與分析
　　4.2.1 采樣頻率關(guān)于測試系統的影響
　　某些測試系統在工程運用中會(huì )出現隨著(zhù)系統延續運轉時(shí)間的延伸，而采樣速度越來(lái)越慢的情況，直到系統崩潰。這里檢驗采樣頻率對測試系統的影響。本設計中儀器的最高出樣頻率為10 Hz。實(shí)驗中，辨別采用10 Hz，8 Hz，4 Hz的采樣頻率對測試系統舉行延續測試，測試后果如圖5所示。由圖可看出，采樣頻率隨著(zhù)測試時(shí)間的延伸，不時(shí)的衰減。采樣頻率越高，衰減的越快，越快速。當以10 Hz采樣時(shí)，系統運轉不到5 min就開(kāi)端崩潰；當以4 Hz采樣時(shí)，系統也只好平均運轉30 min。不論是采用高的采樣頻率，照舊低的采樣頻率，只需是系統延續運轉，系統早晚都會(huì )出現崩潰。因而，可以得出，采樣頻率不是招致測試系統崩潰的原由。
4.2.2 數據記載關(guān)于測試系統的影響
　　測試系統議決創(chuàng )立文件記載數據，波形顯示記載數據，表格顯示記載數據三種方式來(lái)記載數據。鑒于上面提到的計算機運轉崩潰的疑問(wèn)，在10 Hz的采樣頻率下，辨別測試在三種記載數據的情況下計算機的運轉情況。圖6表示了以10 Hz的采樣頻率測試時(shí)計算機CPU和內存的運用情況。從圖中看出，創(chuàng )立文件和波形顯示記載數據時(shí)，計算機的運轉固定，CPU運用率在7％左右，內存占用 75 000 KB左右；當采用表格記載數據時(shí)，系一致開(kāi)端運轉，計算機的CPU運用率和內存占用空間都在不時(shí)長(cháng)高，直到系統運轉到4 min時(shí)，CPU的運用率到達100％，系統崩潰。

　　在 4.2.1節中系統以10 Hz采樣時(shí)，采樣頻率也是在第4 min的時(shí)辰開(kāi)端衰退，兩者出現的時(shí)間點(diǎn)吻合。鑒于上述情況，實(shí)驗覺(jué)察，當LabVIEW系統采用內置表格記載數據時(shí)，記載的數據不時(shí)占用系統內存，直至計算機崩潰，最后招致測試系統的崩潰，使得出現采樣頻率繼續衰減的現象。

　　4.3 測試系統改進(jìn)與分析
　　鑒于上述疑問(wèn)的所在，在舉行系統改進(jìn)時(shí)，照舊采用三種方式記載數據，只是在表格記載數據時(shí)，限定表格記載數據的內存大小。閱歷改進(jìn)后的順序以10 Hz的采樣頻率測試，測試后果如圖7所示。從圖中看出，改進(jìn)后的測試系統在延續運轉5 h，采樣頻率仍然固定，計算機內存只是在開(kāi)端的3 min內添加，之后抵達一個(gè)固定值。CPU的運用率一樣是在開(kāi)端的3 min內有所添加，之后快速回到7％并堅持固定。

　　5 結語(yǔ)
　　該系統閱歷長(cháng)時(shí)間的測試，運轉固定。實(shí)驗后果標明，通訊安全、牢靠；計算機得到了及時(shí)精確的測量數據；順序對測量數據的后期處置功用強悍，界面友善美觀(guān)，能滿(mǎn)足非少數場(chǎng)所下的熱溫馨性測試。缺乏之處在于傳輸速度不高，傳輸距離不遠，這是遭到串口通訊的限定。另外，由于系統內存大小的限定，及時(shí)看到的數據量有限，一切測試數據必需等測試完畢后翻開(kāi)文本檢查。本設計為10通道串口通訊熱溫馨測試系統，至于不是串口通訊的測量?jì)x器，只需能提供輸出信號，采樣一樣的方法也可以接入到本測試系統中?，F在，該系統曾經(jīng)運用于小空間熱溫馨的測試。但是，如今的實(shí)踐測試中須要測試幾百，甚至幾千幾萬(wàn)個(gè)點(diǎn)，最后得出整個(gè)測試區域的溫度場(chǎng)、濕度場(chǎng)、濃度場(chǎng)等，進(jìn)而可以與計算機模擬場(chǎng)舉行比擬，因而，議決上述揣摩的方法完成測試點(diǎn)擴張成為后續須要處理的疑問(wèn)。