射頻導納的液位計概述與測量原理

　　射頻導納的液位計概述與測量原理：

　　射頻導納是一種從電容式發(fā)展起來(lái)的、防掛料、更可靠、更準確、適用性更廣的新型物位控制技術(shù)，是電容式物位技術(shù)的升級。所謂射頻導納，導納的含義為電學(xué)中阻抗的倒數，它由電阻性成分、電容性成分、感性成分綜合而成，而射頻即高頻無(wú)線(xiàn)電波譜，所以射頻導納可以理解為用高頻無(wú)線(xiàn)電波測量導納。儀表工作時(shí)，儀表的傳感器與灌壁及被測介質(zhì)形成導納值，物位變化時(shí)，導納值相應變化，電路單元將測量導納值轉換成物位信號輸出，實(shí)現物位測量。

　　對于連續測量，射頻導納技術(shù)與傳統電容技術(shù)的區別除了上述講過(guò)的以外，還增加了兩個(gè)很重要的電路，這是根據導電掛料實(shí)踐中的一個(gè)很重要的發(fā)現改進(jìn)而成的。上述技術(shù)在這時(shí)同樣解決了連接電纜問(wèn)題，也解決了垂直安裝的傳感器根部掛料問(wèn)題。鎖增加的兩個(gè)電路是振蕩器緩沖器和交流變換斬波器驅動(dòng)器。

　　對一個(gè)強導電性被測介質(zhì)的容器，由于被測介質(zhì)是導電的，接地點(diǎn)可以被認為在探頭絕緣層的表面，對變送器來(lái)說(shuō)僅表現為一個(gè)純電容。隨著(zhù)容器排料，探桿上產(chǎn)生掛料，而掛料是具有阻抗的。這樣以前的純電容現在變成了由電容和電阻組成的復阻抗，從而引起兩個(gè)問(wèn)題。

　　第一個(gè)問(wèn)題是液位本身對探頭相當于一個(gè)電容，它不消耗變送器的能量，(純電容不耗能)。但掛料對探頭等效電路中含有電阻，則掛料的阻抗會(huì )消耗能量，從而將振蕩器電壓拉下來(lái)，導致橋路輸出改變，產(chǎn)生測量誤差。我們在振蕩器與電橋之間增加了一個(gè)緩沖放大器，使消耗的能量得到補充，因而不會(huì )降低加在探頭的振蕩電壓。

　　第二個(gè)問(wèn)題是對于導電被測介質(zhì)，探頭絕緣層表面的接地點(diǎn)覆蓋了整個(gè)被測介質(zhì)及掛料區，使有效測量電容擴展到掛料的頂端。這樣便產(chǎn)生掛料誤差，且導電性越強誤差越大。但任何被測介質(zhì)都不是完全導電的。從電學(xué)角度來(lái)看，掛料層相當于一個(gè)電阻，傳感元件被掛料覆蓋的部分相當于一條由無(wú)數個(gè)無(wú)窮小的電容和電阻元件組成的傳輸線(xiàn)。根據數學(xué)理論，如果掛料足夠長(cháng)，則掛料的電容和電阻部分的阻抗相等。因此根據對掛料阻抗所產(chǎn)生的誤差研究，又增加一個(gè)交流驅動(dòng)器電路。該電路與交流變換器或同步檢測器一起就可以分別測量電容和電阻。由于掛料的阻抗和容抗相等，則測得的總電容相當于C+C掛料，再減去與C掛料相等的電阻R，就可以實(shí)際測量真實(shí)值，從而排除掛料的影響。

　　即C測量=C+C掛料

　　C=C測量—C掛料

　　=C測量—R

　　這些，多參量的測量，是必須得基礎，交流鑒相采樣器是實(shí)現的手段。由于使用了上述三項技術(shù)，使得射頻導納技術(shù)在現場(chǎng)應用中展現出非凡的生命力。