基于DDS+PLL的X―Band信號源設計
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2．4 頻率合成單元
X波段變頻源輸出的f0信號分為3路，一路經(jīng)濾波、功率放大后生成本振信號輸出，另外兩路與PLL1鎖相器輸出的28 MHz中頻信號混頻，上變頻輸出經(jīng)濾波、功率放大后生成鏡頻信號，下變頻輸出經(jīng)濾波、功率放大后生成探測信號。頻率合成單元的X波段功分器、混頻器、功率放大器等均采用成熟技術(shù)，確保系統穩定可靠地工作，本振、鏡頻、探測3路輸出設計為3個(gè)獨立的支路，減小信號之間的串擾，采取良好的屏蔽、接地和濾波等措施，以實(shí)現高頻譜純度源信號。本振、鏡頻、探測信號的頻率穩定度和頻率準確度取決于參考晶振，優(yōu)于技術(shù)指標的要求。頻率合成電路原理如圖5所示。本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/194703.htm
2．5 點(diǎn)頻選擇
微波源頻段落在X波段內，提供主通道微波前端組件測試所需的相干本振信號、探測信號、鏡頻信號，每種信號在1 GHz通帶內有201個(gè)點(diǎn)頻可供選擇。所有測試頻點(diǎn)參數均由工控機轉換為DDS頻率控制字通過(guò)RS 232下載到FPGA，并存儲在FPGA片內RAM的對應地址單元，根據選定的點(diǎn)頻，FPGA讀取對應的代碼，控制DDS輸出對應頻率的信號。信號點(diǎn)頻既能手動(dòng)選擇，也能自動(dòng)控制。
3 測試結果和分析
根據前面介紹的方案，最終實(shí)現了該X波段變頻源，圖6，圖7為該變頻源的外觀(guān)圖。
為了測試變頻源輸出頻譜的質(zhì)量，使用E4440A頻譜分析儀測試其輸出頻譜和相位噪聲，頻譜和相位噪聲測試曲線(xiàn)如圖8，圖9所示，主要測試指標如下：相位噪聲為-86．87 dBc／Hz／10 kHz；雜波抑制小于等于65 dB／(300 MHz帶寬內)；輸出功率為19．05dBm。
測試結果表明，該變頻源輸出頻譜質(zhì)量?jì)?yōu)異，完全能滿(mǎn)足研制要求的需要。
4 結語(yǔ)
采用本文提出的方案研制出的X波段變頻源，體積小，成本低，可靠性高，實(shí)現了系統信號的全相參和變頻要求，同時(shí)輸出信號具有低相位噪聲、高頻譜純度、高捷變速率的特點(diǎn)，滿(mǎn)足了測試系統的需求。
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