微波暗箱反射率電平分析與測量

微波暗箱反射率電平的測試系統主要由發(fā)射信號源（69347B）、接收機（MS2667C頻譜分析儀）、計算機及接收天線(xiàn)和測試支架組成，見(jiàn)框圖（7）。其中信號源為發(fā)射天線(xiàn)輸出一個(gè)微波直射信號，由頻譜分析儀接收來(lái)自各方向的反射及直射信號，并由計算機讀出后描繪出一個(gè)空間駐波曲線(xiàn)，并計算出反射率電平。天線(xiàn)支架用來(lái)控制測試天線(xiàn)的上下、左右直線(xiàn)移動(dòng)及轉角姿態(tài)的變化動(dòng)作。為了能比較準確地描繪出空間行程駐波曲線(xiàn)，天線(xiàn)移動(dòng)的行程距離必須大于等于兩個(gè)波長(cháng)。最后通過(guò)改變接收天線(xiàn)取向角以獲得若干條駐波曲線(xiàn)，從而達到測試小圓柱型微波暗箱反射率電平的目的。