元器件檢測的測量不確定度評定方法與實(shí)例

(3)輸入量的標準不確定度u(Xi)引起的y的標準不確定度分量ui(y)為：

其中為靈敏系數，等于輸入量Xi變化單位量時(shí)引起y的變化量，可以由數學(xué)模型得到，也可以由實(shí)測得到。反映了該輸入量的標準不確定度對輸出量的不確定度的貢獻靈敏程度。
(4)合成標準不確定度uc(y)的計算

實(shí)際工作中，若各輸入量之間互不相關(guān)，或有部分輸入量相關(guān)，但其相關(guān)系數較小(弱相關(guān))，即r(Xi,Xj)=0，可化簡(jiǎn)為：

此時(shí)，計算合成不確定度采用的是方和根法，即將各標準不確定度分量平方后求和再開(kāi)根。
(5)擴展不確定度u的計算
1)通常提供的不確定度是特定包含概率下的擴展不確定度，這時(shí)需要估計不確定度分量的分布形式，在不確定度較多、其大小比較接近，而無(wú)法確定其分布形式時(shí)，按照標準的規定取K=2，近似的正態(tài)分布其包含概率約為95％，即U=Kuc(y)=2uc(y)。
2)如果可以確定合成不確定度包含的分量中較多分量或占支配地位的分量的概率分布形式，則需要按照其分布形式來(lái)確定K值。

3 元器件測試中測量不確定度評定實(shí)例
3．1 測試過(guò)程信息
(1)測試設備為數字電路自動(dòng)測試系統J750。
電壓測量能力：量程5V、分辨力0．625mV；測量電壓準確度±0．1％+3mV。
(2)測試參數及測試結果：在重復性條件下(26．4℃、54％)，測量標準樣片54LS245的Voh參量(Ioh=3mA)，其6次結果如下：

平均值為Ave=2．93477V