PCB飛針測試技術(shù)概述

我國的PCB研制工作始于1956年，1963-1978年，逐步擴大形成PCB產(chǎn)業(yè)。改革開(kāi)放后20多年，由于引進(jìn)國外先進(jìn)技術(shù)和設備，單面板、雙面板和多層板均獲得快速發(fā)展，國內PCB產(chǎn)業(yè)由小到大逐步發(fā)展起來(lái)。中國由于下游產(chǎn)業(yè)的集中及勞動(dòng)力土地成本相對較低，成為發(fā)展勢頭最為強勁的區域。2002年，成為第三大PCB產(chǎn)出國。2003年，PCB產(chǎn)值和進(jìn)出口額均超過(guò)60億美元，首度超越美國，成為世界第二大PCB產(chǎn)出國，產(chǎn)值的比例也由2000年的8.54%提升到15.30%，提升了近1倍。2006年中國已經(jīng)取代日本，成為全球產(chǎn)值最大的PCB生產(chǎn)基地和技術(shù)發(fā)展最活躍的國家。我國PCB產(chǎn)業(yè)近年來(lái)保持著(zhù)20%左右的高速增長(cháng)，遠遠高于全球PCB行業(yè)的增長(cháng)速度。

飛針測試是目前PCB測試一些主要問(wèn)題的最新解決辦法。它用探針來(lái)取代針床，使用多個(gè)由馬達驅動(dòng)的、能夠快速移動(dòng)的電氣探針同器件的引腳進(jìn)行接觸并進(jìn)行電氣測量。這種儀器最初是為裸板而設計的，也需要復雜的軟件和程序來(lái)支持；現在已經(jīng)能夠有效地進(jìn)行模擬在線(xiàn)測試了。飛針測試的出現已經(jīng)改變了低產(chǎn)量與快速轉換(quick-turn)裝配產(chǎn)品的測試方法。以前需要幾周時(shí)間開(kāi)發(fā)的測試現在幾個(gè)小時(shí)就可以了，大大縮短產(chǎn)品設計周期和投入市場(chǎng)的時(shí)間。

1、飛針測試系統的結構特點(diǎn)

飛針式測試儀是對傳統針床在線(xiàn)測試儀的一種改進(jìn)，它用探針來(lái)代替針床，在 X-Y 機構上裝有可分別高速移動(dòng)的4 個(gè)頭共8 根測試探針，最小測試間隙為0.2mm。工作時(shí)在測單元(UUT, unit under test)通過(guò)皮帶或者其它UUT傳送系統輸送到測試機內，然后固定測試機的探針接觸測試焊盤(pán)(TEST pad)和通路孔(via)，從而測試在測單元(UUT)的單個(gè)元件。測試探針通過(guò)多路傳輸(multiplexing)系統連接到驅動(dòng)器(信號發(fā)生器、電源供應等)和傳感器(數字萬(wàn)用表、頻率計數器等)來(lái)測試UUT 上的元件。當一個(gè)元件正在測試的時(shí)候，UUT上的其它元件通過(guò)探針器在電氣上屏蔽以防止讀數干擾。飛針測試機可檢查短路、開(kāi)路和元件值。在飛針測試上也使用了一個(gè)相機來(lái)幫助查找丟失元件。用相機來(lái)檢查方向明確的元件形狀，如極性電容。隨著(zhù)探針定位精度和可重復性達到5-15微米的范圍，飛針測試機可精密地探測UUT。飛針測試解決了在PCB裝配中見(jiàn)到的大量現有問(wèn)題：如可能長(cháng)達4-6周的測試開(kāi)發(fā)周期；大約10,000 美元-50,000 美元的夾具開(kāi)發(fā)成本；不能經(jīng)濟地測試小批量生產(chǎn)；以及不能快速地測試原型樣機(prototype)裝配。因為具有緊密接觸屏蔽的UUT 的能力和使新產(chǎn)品更快投入市場(chǎng)(time-to-market)的能力，飛針測試是一個(gè)無(wú)價(jià)的生產(chǎn)資源。還有，由于不需要有經(jīng)驗的測試開(kāi)發(fā)工程師，該系統還具有節省人力、節省時(shí)間等好處。

2、測試開(kāi)發(fā)與調試

飛針測試機的編程比傳統的ICT 系統更容易、更快捷。以 GenRad 公司的GRPILOT系統為例，測試開(kāi)發(fā)員將設計工程師的CAD數據轉換成可使用的文件，這個(gè)過(guò)程需要1-4 個(gè)小時(shí)。然后該新文件通過(guò)測試程序運行，產(chǎn)生一個(gè) .IGE和 .SPC 文件，再放入一個(gè)目錄。然后軟件運行在目錄內產(chǎn)生需要測試UUT的所有文件。短路的測試類(lèi)型是從選項頁(yè)面內選擇。測試機在UUT上使用的參考點(diǎn)從CAD信息中選擇。UUT放在平臺上固定。在軟件開(kāi)發(fā)完成后，該程序被“擰進(jìn)去”，以保證選擇到盡可能最佳的測試位置。這時(shí)加入各種元件“保護”(元件測試隔離)。一個(gè)典型的1000個(gè)節點(diǎn)的UUT的測試開(kāi)發(fā)所花的時(shí)間是 4-6 個(gè)小時(shí)。在軟件開(kāi)發(fā)和裝載完成以后，開(kāi)始典型的飛針測試過(guò)程的測試調試。調試是測試開(kāi)發(fā)員接下來(lái)的工作，需要用來(lái)獲得盡可能最佳的UUT測試覆蓋。在調試過(guò)程中，檢查每個(gè)元件的上下測試極限，確認探針的接觸位置和零件值。典型的1000個(gè)節點(diǎn)的UUT調試可能花 6-8小時(shí)。飛針測試機的開(kāi)發(fā)容易和調試周期短，使得UUT的測試程序開(kāi)發(fā)對測試工程師的要求相當少。在接到CAD數據和UUT準備好測試之間這段短時(shí)間，允許制造過(guò)程的最大數量的靈活性。相反，傳統ICT的編程與夾具開(kāi)發(fā)可能需要160小時(shí)和調試 16-40 小時(shí)。

3、飛針測試優(yōu)點(diǎn)

盡管有上述這些缺點(diǎn)，飛針測試仍不失為一個(gè)有價(jià)值的工具。其優(yōu)點(diǎn)包括：快速測試開(kāi)發(fā)；較低成本測試方法；快速轉換的靈活性；以及在原型階段為設計人員提供快速的反饋。因此，和傳統的ICT比較，飛針測試所要求的時(shí)間通過(guò)減少總的測試時(shí)間足以彌補。 使用飛針測試系統的好處大于缺點(diǎn)。例如，裝配過(guò)程中，這樣一個(gè)系統提供在接收到CAD文件幾小時(shí)后就可以開(kāi)始生產(chǎn)。因此，原型電路板在裝配后數小時(shí)即可測試，不象ICT，高成本的測試開(kāi)發(fā)與夾具可能將過(guò)程延誤幾天，甚至幾月。除此之外，由于設定、編程和測試的簡(jiǎn)單與快速，實(shí)際上一般技術(shù)裝配人員，而不是工程師，就可以操作測試。飛針測試也存在靈活性，做到快速測試轉換和過(guò)程錯誤的快速反饋。還有，因為飛針測試不需要夾具開(kāi)發(fā)成本，所以它是一個(gè)可以放在典型測試過(guò)程前面的低成本系統。并且因為飛針測試機改變了低產(chǎn)量和快速轉換裝配的測試方法，通常需要幾周開(kāi)發(fā)的測試現在數小時(shí)就可以得到。