關(guān)于模擬數據采集的設計權衡的分析與研究

　　
這個(gè)系統錯誤可以很容易被測試。將一個(gè)復用數據采集系統中的兩個(gè)相鄰通道（如通道 0 和 1）連接到接近系統輸入極限的 DC 電壓上，如 +10V 和 -10V。接下來(lái)，在兩個(gè)輸入通道之間進(jìn)行交替采樣。開(kāi)始對每個(gè)通道進(jìn)行幾次采樣，并逐漸轉為每通道一次采樣，然后切換通道。
　　
如果時(shí)間常數快于采樣速率，則應看到二分之一采樣速率的一個(gè)方波。但如果時(shí)間常數過(guò)長(cháng)，則所得到的是一個(gè)類(lèi)似的三角波，因為通道之間有電荷注入。

　　
Analog Devices 公司的 Hyde 說(shuō)：“Ron 應不大于幾歐姆。數百歐的導通電阻對今天的多數數據采集應用而言太大了?！倍?National Instruments 的 Orozco 主張，數百歐并不太大，因為上游運放有高輸入阻抗。
　　
Hyde 還指出，復用器的導通電阻會(huì )根據系統輸入信號的幅度而變化。如果將通道從一個(gè)電壓軌變到另一個(gè)電壓軌，就需要了解通道的 RC 時(shí)間常數。當 Ron 隨電壓變化時(shí)，通道電容會(huì )產(chǎn)生一個(gè)隨頻率變化的阻抗。這些阻抗與電容一起構成了一個(gè)可變的低通濾波器，并造成失真。
　　
Hyde 說(shuō)：“通道必須落在 ADC 精度極限內，以防止電荷導致的錯誤?！毙聫陀闷鞯碾娙菪∮谳^老型號，他補充說(shuō)。
　　
技術(shù)數據
　　
在設計數據采集系統時(shí)，當然要依賴(lài)于 ADC、運放和電壓基準的數據手冊。元器件制造商也會(huì )為自己的元件提供其他有價(jià)值的資源，如參考設計板（圖 5）。通常情況下，可以購買(mǎi)一塊參考設計板來(lái)評估元件，然后再將它們設計到自己的系統里。
　　
數據手冊也提供了設計與布局信息，但 Keithley 的 Cawley 發(fā)現，數據手冊上的信息和參考設計板可能不一致。在設計一個(gè) 500 k 采樣/秒、18 位的數據采集系統時(shí)，Cawley 使用數據手冊中的設計信息，不過(guò)發(fā)現 ADC 產(chǎn)生的噪聲在 3 與 7 LSB 之間（5 ?V/LSB）。他說(shuō)：“當我轉用參考設計推薦的布局時(shí)，噪聲跌到了 1 LSB 內。該參考設計在 QFP 器件下用了四層接地。用 9 個(gè)通孔連接接地層，但數據手冊用了一根從 ADC 到一只旁路電容的走線(xiàn)，而沒(méi)有用接地層?！?
　　
模擬 IC 制造商為 ADC 的設計提供了豐富的技術(shù)信息，無(wú)需支付費用就可以找到應用說(shuō)明、數據手冊、在線(xiàn)研討會(huì )、技術(shù)論文，以及仿真軟件等。