電池充電器原理

圖9. 受DS2720保護的鋰離子電池波形

DS2720為電池信息存儲提供兩類(lèi)存儲器，及EEPROM和可鎖定EEPROM。EEPROM是真正的非易失(NV)存儲器，用來(lái)保存重要的電池數據，不會(huì )因電池過(guò)度放電、偶然短路或ESD事件丟失數據?？涉i定EEPROM在鎖定后相當于只讀存儲器(ROM)，用于更安全地保存不再改變的電池數據。

保護模式

過(guò)壓

如果在VDD檢測的電池電壓超過(guò)過(guò)壓閾值VOV時(shí)間大于過(guò)壓延遲時(shí)間tOVD，則DS2720關(guān)閉充電FET，并將保護寄存器的OV置位。在過(guò)壓期間，放電通路保持開(kāi)放。除非被另外保護條件鎖定，當電池電壓降到充電使能閾值VCE以下或由于放電導致VDD - VPLS > VOC時(shí)，充電FET被重新使能。

欠壓

如果在VDD檢測的電池電壓低于欠壓閾值VUV時(shí)間大于欠壓延遲時(shí)間tUVD，則DS2720關(guān)閉充電和放電FET，并將保護寄存器的UV置位，使其進(jìn)入休眠模式。當電池電壓升到VUV以上和連接充電器后，IC打開(kāi)充電和放電FET。

短路

如果在VDD檢測的電池電壓低于放電閾值VSC時(shí)間達到延遲時(shí)間tSCD，則DS2720關(guān)閉充電和放電FET，并將保護寄存器的DOC置位。除非PLS上的電壓升至大于VDD - VOC，否則充電和放電FET不會(huì )導通。DS2720提供流經(jīng)內部VDD至PLS電阻RTST的測試電流，當VDD升至大于VSC時(shí)上拉PLS。DS2720利用此測試電流檢測有害低阻抗負載的移除。另外，測試電流還提供了流經(jīng)RTST，由PLS到VDD的恢復性充電通路。

過(guò)流

若加在保護FET的電壓(VDD - VPLS)大于VOC的時(shí)間超過(guò)了tOCD，則DS2720關(guān)斷外部充電和放電FET，并將保護寄存器DOC置位。直到PLS上的電壓升至大于VDD - VOC時(shí)電路才會(huì )導通。DS2720提供流經(jīng)內部VDD至PLS電阻RTST的測試電流來(lái)檢測有害低阻抗負載的移除。

過(guò)熱

若DS2720溫度超過(guò)TMAX，則立即關(guān)斷外部充電和放電FET。在以下兩個(gè)條件滿(mǎn)足前FET不會(huì )導通：電池溫度降到低于TMAX，主機將OT復位。

充電溫度

應盡量在室溫下充電。鎳基電池應在10°C至30°C (50°F至86°F)之間快速充電。低于5°C (41°F)和高于45°C (113°F)時(shí)鎳基電池的充電能力急劇下降。鋰離子電池在整個(gè)溫度范圍內呈現良好的充電性能，但低于5°C (41°F)時(shí)充電速率應小于1°C。

結論

NiMH充電器可為NiCd電池充電，反之則不行。NiCd電池專(zhuān)用的充電器將會(huì )使NiMH電池過(guò)充?？焖俪潆娍稍鰪婃嚮姵氐膲勖托阅?，這是因為快速充電降低了內部結晶引起的記憶效應。鎳基和鋰基電池要求不同的充電算法。Li+電池需要保護電路來(lái)監控和保護過(guò)流、短路、過(guò)壓、欠壓以及過(guò)熱。注意，在電池不常使用時(shí)，應從充電器中取出，在使用前對電池浮充。

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