手機功率放大器的功率包絡(luò )跟蹤
圖6顯示的是驗證VSG和AWG同步和重復性所使用的設置。 NI PXIe-5673E VSG用于生成RF波形,NI PXIe-5451用于生成基帶包絡(luò )波形。 NI PXIe-5154 1 GHz數字化儀用于同步驗證,但也可使用任何具有足夠高采樣率和帶寬的示波器。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/170431.htm
為了同步AWG和VSG,兩個(gè)設備必須共享同一個(gè)10 MHz參考時(shí)鐘。 參考時(shí)鐘的來(lái)源可以是NI PXI 10 MHz背板時(shí)鐘,也可以是外部提供的10 MHz時(shí)鐘。
軟件
圖7顯示的是生成實(shí)現ET所需的RF和包絡(luò )波形所必需的軟件步驟。 要生成的LTE波形可使用NI LTE工具包來(lái)創(chuàng )建,或從文件中讀取。 然后便可計算包絡(luò )波形,包絡(luò )波形是LTE波形的一個(gè)函數。 您也許還希望進(jìn)行一些額外的信號處理,比如數字預失真或其他濾波操作來(lái)優(yōu)化用于ET的波形。 可對VSG進(jìn)行配置來(lái)生成LTE波形,NI PXIe-5451的配置與NI PXIe-5673E VSG中的NI PXIe-5450 AWG相似(見(jiàn)圖5)。 接著(zhù)包絡(luò )波形便可相對RF波形進(jìn)行時(shí)移,并與用于控制波形生成的硬件腳本一起寫(xiě)入到板載內存中。 (查看下面關(guān)于“波形生成延遲實(shí)現”的內容,了解包絡(luò )波形時(shí)移算法。) 最后,多個(gè)設備可通過(guò)TClk來(lái)進(jìn)行同步和初始化。

同步基帶包絡(luò )發(fā)生器和RF信號發(fā)生器所需的軟件相對簡(jiǎn)單。 VSG和AWG共享同一參考時(shí)鐘后,NI-TClk便可用于同步環(huán)節。 此時(shí),對AWG和VSG生成的波形進(jìn)行相位鎖定,兩個(gè)波形之間存在可重復延遲。 該延遲是由于NI-TClk沒(méi)有計算NI PXIe-5450 AWG到NI PXIe-5611 I/Q調制器之間的模擬路徑而產(chǎn)生的(詳見(jiàn)圖5)。 由于該延遲為常數,因此可通過(guò)設置AWG相對于VSG的延遲來(lái)進(jìn)行消除。 對于許多ET應用,AWG相對于VSG的延遲(或VSG相對于A(yíng)WG的延遲)對于找到延遲優(yōu)化設備性能至關(guān)重要。 該延遲必須是可重復的,且具有最低程度的抖動(dòng),這是因為就算延遲只偏離最佳值幾納秒,也會(huì )使設備的線(xiàn)性度減少若干個(gè)dB。
波形生成延遲實(shí)現
記?。篤SG和AWG之間的延遲控制對于ET芯片測試和特性記述是至關(guān)重要的。 該延遲可通過(guò)在硬件中添加等待采樣和偏移采樣時(shí)鐘或通過(guò)在軟件中使用DSP來(lái)實(shí)現。 雖然在硬件中可實(shí)現該延遲,但是它需要ET波形重新采樣至200 MHz才能指定納秒級分辨率的延遲。 由于并非每個(gè)用戶(hù)都能夠對波形進(jìn)行重新采樣,因此我們更傾向于在軟件中實(shí)現延遲。

電子管相關(guān)文章:電子管原理
三極管相關(guān)文章:三極管放大電路
pa相關(guān)文章:pa是什么
負離子發(fā)生器相關(guān)文章:負離子發(fā)生器原理 離子色譜儀相關(guān)文章:離子色譜儀原理
評論