泰克擴充100G電測試產(chǎn)品系列

　　全球示波器市場(chǎng)的領(lǐng)導廠(chǎng)商---泰克公司日前宣布，對其儀器和軟件系列進(jìn)行重大擴充，為從事100Gbps通信系統電測工作的設計人員提供支持。推出內容包括LE320---一種2差分通道9抽頭線(xiàn)性均衡器，支持數據率可達32Gbps，用作BERTScope接收器測試系統的一部分;用于PPG/PED多通道誤碼率測試儀 (BERT) 的新選項---在可達32Gbps的數據率條件下提供信號損傷和輸出調整和一種新型號的40Gbps誤差檢測器;以及使DSA8300采樣示波器實(shí)現CEI-28G-VSR一致性測試自動(dòng)化的選項CEI-VSR。

　　在從硅設計轉向接收器和系統設計的行業(yè)驅動(dòng)下，對4x25G測試的需求變得更加重要。設計人員正在開(kāi)發(fā)數據率可達100 Gb/s(將使用四個(gè)25-28 Gb/s巷道來(lái)提供)的創(chuàng )新網(wǎng)絡(luò )元件。設計挑戰在于在印刷電路板上傳輸這些高頻信號，即使是短距離傳輸。LE320為測試工程師提供了多用途的輸出信號調理和可調輸入均衡功能，來(lái)幫助創(chuàng )造用于測試四個(gè)25-28Gbps電通道的最佳系統;這是對增強的PPG/PED碼型發(fā)生器和誤差檢測器產(chǎn)品線(xiàn)的多通道功能的理想補充。采樣過(guò)濾器選項CEI-VSR將確保高效和穩定的一致性測試支持，以便設計團體能夠順利過(guò)渡到制造。

　　“隨著(zhù)100G慢慢變成主流，我們給我們的產(chǎn)品系列增加了兩項重要內容，來(lái)應對芯片、變速箱、收發(fā)器和系統4x25G電PHY測試領(lǐng)域的挑戰”，泰克高性能示波器總經(jīng)理Brian Reich表示，“對于接收器測試，我們利用對電通道建模和均衡的支持增強了我們的BERTScope，同時(shí)為我們的多通道BERT增加了40 Gbps支持。對于發(fā)射器電測試，我們向設計人員提供了用于CEI-28G-VSR測試的自動(dòng)化解決方案。”

　　用于接收器測試的緊湊和多功能32 Gb/s線(xiàn)性均衡器

　　開(kāi)發(fā)10Gbps或更快系統的設計人員需要位于Rx輸入之前的均衡器或位于發(fā)射器Tx輸出上的預加重模塊。隨著(zhù)速度的增加，可幫助設計人員滿(mǎn)足這些要求的12Gb/s以上儀器級信號調理產(chǎn)品的選擇變得有限。業(yè)內領(lǐng)先的LE320將以用于提供100G通信標準(如CEI-28G-VSR)所要求的高精度誤碼率測試的9抽頭設計來(lái)支持數據率范圍為8Gbps - 32Gbps的信號調理。LE320的創(chuàng )新遠程探頭設計使設計人員能夠最大限度減小其測試系統的電纜長(cháng)度，同時(shí)避免信號劣化問(wèn)題，這在25-28Gb/s條件下很重要。通過(guò)使用來(lái)自Hittite的定制硅微波元件來(lái)減少元件數目，新LE320以尺寸不比智能手機大多少的儀器級封裝和比低功能替代產(chǎn)品還小三分之一的價(jià)格提供了突破性的性能和多功能性。

　　憑借儀器級的可編程均衡功能，LE320可配置為提供標準專(zhuān)屬均衡，允許對否則會(huì )閉眼的信號進(jìn)行誤碼率 (BER) 分析。對于采用較低數據率的客戶(hù)，泰克公司還將為20Gbps系統提供一種LE160型號，以滿(mǎn)足40G-KR4、14Gbps 光纖通道和16GbpsPCI Express 4.0等應用的需要。

　　用于100G測試的多通道BERT功能

　　多巷道高數據率標準推動(dòng)了對多通道誤碼率儀器的需求。加壓的接收器測試、四通道端到端BER測試以及串擾測試現在都包含在由轉向多個(gè)高速并行巷道而推動(dòng)的系列測試之中。泰克PPG/PED多巷道BERT產(chǎn)品線(xiàn)現已得到增強，以提供擴展的抖動(dòng)損傷功能，新的輸出調整靈活性和更高速度的誤差檢測功能，以更好地滿(mǎn)足這些標準的要求。

　　抖動(dòng)插入選項范圍擴大后包括選項HFJIT---該選項現在提供BUJ以及RJ和SJ;以及高振幅/低頻率PJ，作為新選項LFJIT的一部分。同時(shí)推出的還有選項ADJ，該選項增加了具有快速上升/下降時(shí)間和低固有抖動(dòng)的可調輸出，以滿(mǎn)足32 Gbps多通道碼型發(fā)生器應用的要求。支持數據率可達40 Gbps、采用1或2通道配置的新PED4000系列誤差檢測器產(chǎn)品的推出增強了數據率余量測試。

　　更快、更自信的CEI-28G-VSR一致性測試

　　針對光互連論壇通用電氣接口 (OIF CEI) 3.0 標準的實(shí)施協(xié)議規定了針對基于 OIF 標準的器件的測試和限值。CEI-28G-VSR 是這些標準的其中之一，其目的是用于可插拔光學(xué)收發(fā)器中的極短距離電通道。這些電氣接口對于滿(mǎn)足系統誤碼率 (BER) 指標要求非常重要，并且必須經(jīng)受?chē)栏竦臏y試和調試周期。

　　到現在為止，進(jìn)行CEI-28G-VSR標準要求的一致性測試和隔離與抖動(dòng)或噪聲有關(guān)的問(wèn)題一直是困難和勞動(dòng)密集型的任務(wù)。與泰克80SJNB串行數據鏈路分析軟件的集成可幫助進(jìn)行更深入的調試和定時(shí)根本原因分析，而無(wú)需改變儀器或測量設置。

　　通過(guò)使用選項CEI-VSR和與該選項相關(guān)的泰克DSA8300采樣示波器，設計工程師能夠在不到5分鐘內完成一致性測量，與手動(dòng)替代方案相比，這可使其測試時(shí)間縮短約95%。此外，選項CEI-VSR還可用于確定CTLE峰化的最優(yōu)值，以滿(mǎn)足CEI-28G-VSR主機至模塊接口規范等標準的要求。最佳CTLE濾波器是從一組既定濾波器中選擇的，用于執行這項測量。如果沒(méi)有這項功能，設計工程師就需要花時(shí)間來(lái)手動(dòng)確定最優(yōu)CTLE值，從而降低工作效率。