RF WCDMA基準比較測試白皮書(shū)

　　為了更加全面準確地觀(guān)察PXI儀器所帶來(lái)的性能提升，所進(jìn)行的這些測量需要進(jìn)行若干次。下面所示的所有數據是在每一種配置下進(jìn)行10次測量后的均值。如圖6中所示，若使用基于PXI的測量系統(而不是傳統儀器)，CCDF測量時(shí)間可以減少33%。此處，你可以看到NI 8353 四核機架式控制器可以達到最高的測量速度。

　　對于處理器密集型的物理層測量來(lái)說(shuō)，選擇不同的處理器對總體的測量時(shí)間影響很大。在圖7至9中，可以看到傳統儀器和PXI儀器在測量時(shí)間和平均次數之間的關(guān)系?！　?/p>

 　　對于諸如EVM測量這樣的處理器密集型應用來(lái)說(shuō)，選擇不同的處理器對總體的測量時(shí)間影響很大。例如，一個(gè)EVM測量如果設定為對五個(gè)點(diǎn)進(jìn)行平均值運算，若使用PXIe-8130嵌入式雙核控制器需要342毫秒，若使用NI 8353四核控制器則所需時(shí)間縮減33%，只需要228毫秒。在相鄰通道泄漏比率(Adjacent channel leakage ratio, ACLR)測量中也可看到類(lèi)似的結果，如圖8所示?！　?/p>

 　　在A(yíng)CLR測量中，使用PXI RF測量系統可以比傳統儀器快16倍。對于一個(gè)ACLR測量(不考慮配置所需時(shí)間)來(lái)說(shuō)，典型的測試時(shí)間不超過(guò)8毫秒，這比常規的時(shí)域 ACLR測量時(shí)間還短。圖9所示為最后一項測量結果，即為占用帶寬的測量?！　?/p>

　　在圖9中你可以看到，對于一些測量來(lái)說(shuō)，在達到相同的測量結果時(shí)，PXI RF儀器可以比傳統儀器快30倍。此外，在一些需要更多的平均次數的測量中，PXI儀器在絕對的測量時(shí)間上的優(yōu)勢更為顯著(zhù)。