使用LabVIEW和NI PXI 測試ASIC
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"我們的虛擬儀器構建在LabVIEW所編寫(xiě)的專(zhuān)用軟件的基礎上，因此用戶(hù)可以設置適當的測試配置、ASIC參數，并讀取數據，然后在圖形化用戶(hù)界面上顯示分析后的結果。正是由于基于NI產(chǎn)品構建的這個(gè)系統方案，使得我們可以節省一年的測試時(shí)間。"
本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/121893.htm– Piotr Maj, AGH University of Science and Technology
The Challenge:
設計和測試針對物理學(xué)和生物學(xué)應用中的專(zhuān)用集成電路(application-specific integrated circuits, ASIC)。
The Solution:
使用NI LabVIEW軟件和PXI硬件創(chuàng )建虛擬儀器，以盡可能快地測試ASIC
Author(s):
Piotr Maj - AGH University of Science and Technology
介紹
我們的物理解決方案能夠檢測低能量、高密度的X射線(xiàn)輻射(見(jiàn)圖1)。我們設計了專(zhuān)用的X射線(xiàn)探測器的讀數ASIC，如DEDIX[1]、RG64[2]和SXDR64[3]，這些都是用于讀取硅條探測器，以及諸如PX90[4]的芯片(該芯片采用90納米CMOS技術(shù)構造，并用于讀取像素探測器(見(jiàn)圖2))。我們的芯片包含多達幾千個(gè)讀數通道，以單光子計數模式工作，這意味著(zhù)如果某個(gè)撞擊探測器的光子的能量超過(guò)一定的閾值，讀數通道就可以對其計數。所有的芯片都包含模擬和數字部分，并具有數字通信接口，用于控制ASIC并輸出所采集的數據。每個(gè)接口可能有不同數量的針腳，可以與不同的數字I / O一起工作，速度高達200MHz。我們需要盡可能快地測試ASIC，得到結果并作進(jìn)一步的處理。
圖1. 使用DEDIX ASIC進(jìn)行X射線(xiàn)檢測
圖2. 將PX90芯片連接到PCB
我們對ASIC進(jìn)行測試，以確保制作的芯片參數滿(mǎn)足要求。為此，我們需要與芯片進(jìn)行通信，以比特流的形式采集數據，并將其轉換為有意義的表示方式。然后，我們需要測量物理參數(在此案例中，即測量給定時(shí)間內的光子數)，并根據所獲取的數據計算ASIC模擬參數。我們需要以最佳的方式表示結果，從而盡可能地得到正確的結論。市場(chǎng)上沒(méi)有能夠滿(mǎn)足這種要求的現成設備，因此，我們決定使用NI 產(chǎn)品自己開(kāi)發(fā)。
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