NI推出業(yè)內最高性能PXI數字化儀

        美國國家儀器公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI）近日推出業(yè)內帶寬最高的PXI數字化儀，擴展了 PXI數字化儀產(chǎn)品的性能。NI與全球示波器領(lǐng)導者泰克公司共同研發(fā)，成功實(shí)現了具有5 GHz帶寬和12.5 GS/s采樣率的 NI PXIe-5186以及3 GHz帶寬和12.5 GS/s采樣率的NI PXIe-5185兩款全新數字化儀。作為NI基于PXI平臺的軟硬件平臺的組成部分，這兩款數字化儀為自動(dòng)化測試應用提供了更優(yōu)異的性能。

        “全新PXI數字化儀結合了泰克在高速數字化儀前端設計方面的優(yōu)勢和NI在軟件定義的模塊化儀器領(lǐng)域的優(yōu)勢，我們很高興能夠與泰克共同開(kāi)發(fā)新產(chǎn)品，”NI CEO James Truchard博士說(shuō)，“這些數字化儀進(jìn)一步體現了摩爾定律對測試應用的影響，使PXI模塊化儀器在保持體積優(yōu)勢的同時(shí)不斷達到更高性能。”

        全新數字化儀中的泰克專(zhuān)利ASIC芯片是進(jìn)行高速信號采集的基礎，具有低噪聲、高線(xiàn)性度等特點(diǎn)，并且基于高可靠性的IBM 7HP SiGe技術(shù)實(shí)現。泰克的Enabling Technology技術(shù)保證了極佳的信號保真度，并可實(shí)現超低抖動(dòng)特性。極低的500飛秒(RMS)抖動(dòng)確保了5GHz時(shí)的有效位數（ENOB）可達5.5比特。NI專(zhuān)利技術(shù)為全新數字化儀提供高數據吞吐量，可實(shí)現更快的測試速度，利用領(lǐng)先的多模塊定時(shí)與同步技術(shù)可進(jìn)一步創(chuàng )建高通道數的集成測試系統。該數字化儀適用于3U PXI Express平臺，能夠以700 MB/s的速率進(jìn)行高速數據傳輸，并且多個(gè)模塊間的通道同步精度可達160ps。這些功能使全新數字化儀成為自動(dòng)化生產(chǎn)測試、半導體ATE和高能物理測量系統等應用的理想之選。

        “作為全球示波器的領(lǐng)先廠(chǎng)商，泰克公司致力于提供滿(mǎn)足各類(lèi)用戶(hù)需求的技術(shù)，包括針對使用模塊化儀器進(jìn)行自動(dòng)化生產(chǎn)測試的用戶(hù)，”泰克公司首席技術(shù)官Kevin Ilcisin說(shuō)，“這一產(chǎn)品讓客戶(hù)同時(shí)享受到泰克公司行業(yè)領(lǐng)先的信號采集技術(shù)以及儀器自動(dòng)化行業(yè)領(lǐng)導者、PXI標準制定廠(chǎng)商NI公司卓越的儀器控制技術(shù)的優(yōu)勢。”

        全新數字化儀可結合NI LabVIEW圖形化系統設計軟件，進(jìn)行儀器控制與自動(dòng)化應用；同時(shí)也可利用NI LabWindows™/CVI ANSI C軟件開(kāi)發(fā)環(huán)境或Microsoft Visual Studio .NET開(kāi)發(fā)工具，使用各種語(yǔ)言進(jìn)行編程。工程師可以使用NI-SCOPE儀器驅動(dòng)以及全新LabVIEW抖動(dòng)分析工具包加速開(kāi)發(fā)。LabVIEW抖動(dòng)分析工具包提供了豐富的函數庫，可用于抖動(dòng)、眼圖和相位噪聲等測量。