自動(dòng)化測試技術(shù)發(fā)展趨勢展望

　　當今，各種創(chuàng )新型技術(shù)層出不窮，對測試測量行業(yè)產(chǎn)生巨大影響。NI通過(guò)與不同行業(yè)工程師深入交流，結合學(xué)術(shù)研究、商業(yè)咨詢(xún)、用戶(hù)調查等多種工具，提出2010年測試測量工程師需要關(guān)注的五大技術(shù)主題。

　　1采用標準化架構

　　在企業(yè)產(chǎn)品線(xiàn)日益膨脹的情況下，采用一個(gè)標準化架構開(kāi)發(fā)通用測試平臺是行之有效的方法，以提高產(chǎn)品從研發(fā)到生產(chǎn)測試的整個(gè)生命周期里測試硬件和軟件組件的復用性。一個(gè)理想的解決方案是：企業(yè)根據常用的實(shí)際測試需要定義一個(gè)標準化的“核心標準測試系統”，針對不同型號產(chǎn)品和不同地區工廠(chǎng)/研發(fā)中心的實(shí)際測試系統(或驗證系統)都基于該“核心標準系統”來(lái)實(shí)現。一方面，該“標準系統”應該可以通過(guò)軟件編程自定義其實(shí)際功能;另一方面，“標準系統”還須具有針對具體應用進(jìn)行擴展的能力。 考慮到這兩方面因素，“標準系統”最理想的硬件表現形式是基于軟件定義的模塊化硬件平臺，具體的模塊化硬件可以來(lái)自一份可靠供應商的產(chǎn)品列表。

　　此外，“標準系統”還應提供一個(gè)通用的軟件架構，可以快速構建測試序列、實(shí)現報表生成、數據庫連接等功能，而測試工程師只需集中精力去維護或開(kāi)發(fā)具體的測試步驟。此外，還可以組建專(zhuān)業(yè)團隊在企業(yè)內部提供對“標準系統”的技術(shù)支持，編寫(xiě)清晰的文檔和開(kāi)發(fā)指南，從而進(jìn)一步提高測試工程師的工作效率。

　　通過(guò)構建這樣的“標準測試系統”，企業(yè)可以最大程度實(shí)現測試設備與代碼的重用，降低測試系統的開(kāi)發(fā)風(fēng)險，縮短開(kāi)發(fā)時(shí)間，并降低成本;同時(shí)采用足夠開(kāi)放的軟硬件架構也不會(huì )因選擇“標準化”而喪失靈活性。

　　2 多通道RF測試

　　無(wú)線(xiàn)技術(shù)變革已經(jīng)對測量測試行業(yè)產(chǎn)生巨大影響，其中兩個(gè)關(guān)鍵技術(shù)趨勢尤為突出，其一是MIMO技術(shù)，其二便是多種無(wú)線(xiàn)標準在同一系統中的集成。這兩個(gè)技術(shù)趨勢都要求射頻測量系統能夠實(shí)現并行測試，這就需要可配置的多通道射頻測試系統。這樣的系統可以在同一設備上并行測試多個(gè)無(wú)線(xiàn)設備或測試多個(gè)通信標準。對于MIMO系統，多通道之間的相位同步也十分重要。目前，基于PXI的模塊化軟件無(wú)線(xiàn)電平臺針對這樣的需求已有一些解決方案相應推出。

　　3 Peer-to-Peer高速傳輸與計算

　　隨著(zhù)測試需求的日益復雜和數據量的指數態(tài)增長(cháng)，自動(dòng)化測試系統需要更強的處理能力，分布式處理的架構也隨之被提出。新一代高性能分布式架構應以下具有高吞吐量點(diǎn)對點(diǎn)拓撲結構、低延遲、能夠提供用戶(hù)自定義處理節點(diǎn)這三大特性?；谶@三點(diǎn)考慮，PXI Express技術(shù)是理想選擇，它的Peer-to-Peer點(diǎn)對點(diǎn)傳輸可以不經(jīng)過(guò)控制器，在模塊之間直接傳輸數據，具備高吞吐量和低延遲特性。同時(shí)，基于PXI Express的FlexRIO FPGA模塊可以作為分布式計算中的自定義處理節點(diǎn)。要想真正利用Peer-to-Peer高速傳輸與分布計算技術(shù)，工程師還需要一種編程環(huán)境可以對數據流進(jìn)行方便的可視化的操作，并能對FPGA、實(shí)時(shí)處理器或x86處理器進(jìn)行編程，LabVIEW圖形化開(kāi)發(fā)環(huán)境便具備這樣的能力。

　　圖1 PCI Epxress是自動(dòng)化測試中peer-to-peer架構的理想總線(xiàn)選擇

　　在自動(dòng)化測試應用中，Peer-to-Peer高速傳輸與計算技術(shù)仍處于發(fā)展階段，有許多需要實(shí)踐創(chuàng )新的地方，從而使測試工程師可以更好地利用這些新技術(shù)創(chuàng )建更智能的自動(dòng)化測試系統。

　　4 實(shí)時(shí)測試

　　當測試系統的一部分運行在實(shí)時(shí)系統上時(shí)，就是我們所說(shuō)的實(shí)時(shí)測試。實(shí)時(shí)測試提高了測試的穩定性和可靠性。一個(gè)典型的實(shí)時(shí)測試是硬件在環(huán)(HIL)測試，例如將受控對象的模型運行在實(shí)時(shí)系統上，從而對控制器產(chǎn)品或原型進(jìn)行測試(圖2)。再比如，在半導體協(xié)議感知測試中，協(xié)議感知接口也往往要基于實(shí)時(shí)系統實(shí)現。

　　圖2 控制器的硬件在環(huán)(HIL)測試