選擇硬件在環(huán)（HIL）測試系統I/O接口

　　概覽

　　高性能模塊化的I/O接口是構建成功硬件在環(huán)測試系統所必須的。硬件在環(huán)(HIL)測試系統體系結構教程討論了多種硬件在環(huán)測試系統體系結構和用于實(shí)現的實(shí)時(shí)處理技術(shù)。本教程討論了多種I/O接口選項，能夠用于實(shí)時(shí)處理器創(chuàng )建您的硬件在環(huán)測試系統。

　　多功能I/O

　　硬件在環(huán)測試系統需要多種模擬、數字和計數器/定時(shí)器接口與被測電子控制單元(ECU)進(jìn)行交互。NI多功能數字采集產(chǎn)品將所有功能集成在單個(gè)設備 中，為硬件在環(huán)測試系統I/O接口提供了高價(jià)值的選擇。高性能模擬數字和數字模擬轉換器結合了用于計數器/定時(shí)器功能和與實(shí)時(shí)處理器之間進(jìn)行低延時(shí)數據傳 輸的板載處理能力，讓這些接口成為硬件在環(huán)測試系統應用的理想選擇。

　　基于FPGA的I/O

　　基于NI現場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)的I/O將模擬I/O以及數字I/O與FPGA整合在單個(gè)儀器中。這些設備使用NI可重復配置I /O(RIO)FPGA技術(shù)，它提供了用于可編程的FPGA功能，可以用于創(chuàng )建定制I/O功能并減少實(shí)時(shí)處理器進(jìn)行模型執行和信號處理的負荷，從而提高硬 件在環(huán)測試系統的性能。使用NI LabVIEW FPGA模塊，您可以定義您自己的硬件特性，而無(wú)需具備硬件描述語(yǔ)言的深入知識。