電阻膜腐蝕導致電阻發(fā)生不良的失效分析

電阻失效發(fā)生的機理是多方面的，環(huán)境或工作條件若發(fā)生變化都有可能造成電阻的失效。其中，因外部水汽或其它腐蝕性氣體等造成電阻膜腐蝕，進(jìn)而導致電阻開(kāi)路或阻值變大的失效情景時(shí)有發(fā)生。本文依據此，進(jìn)行案例分享。

貼片電阻(SMD Resistor)又名片式固定電阻器(Chip Fixed Resistor) ，是金屬玻璃釉電阻器中的一種。

以下是貼片電阻中因電阻膜腐蝕造成的不良解析過(guò)程：

說(shuō)明: 對樣品電阻的阻值進(jìn)行測試，其中不良品電阻阻值為∞，良品電阻阻值為0.499MΩ。

說(shuō)明: 對樣品電阻進(jìn)行SEM分析，電阻本體表面有孔隙、凹坑。

說(shuō)明: 對電阻脫膜后進(jìn)行金相分析，電阻膜缺損。

說(shuō)明: 電阻膜進(jìn)行EDS檢測，電阻膜損傷位置K元素含量約占1.3%。

分析結果：通過(guò)阻值測試、SEM分析、脫膜后金相分析、EDS檢測，判斷引起電阻失效的原因：

1.電阻本體表面有孔隙、凹坑；

2.電阻脫膜后，檢出電阻膜有缺損；

3.電阻脫膜后EDS檢測電阻膜損傷位置發(fā)現K元素，K元素約占1.3%；

色環(huán)電阻是在電阻封裝上（即電阻表面）涂上一定顏色的色環(huán)，來(lái)代表這個(gè)電阻的阻值。色環(huán)實(shí)際上是早期為了幫助人們分辨不同阻值而設定的標準。

以下是色環(huán)電阻中因電阻膜腐蝕造成的不良解析過(guò)程：

說(shuō)明: 對樣品進(jìn)行外觀(guān)檢測，電阻電極位置有破損的現象。

說(shuō)明: 對不良電阻進(jìn)行阻值檢測，測試結果均顯示超規格。

說(shuō)明: 對樣品進(jìn)行脫膜后金相顯微鏡檢測，發(fā)現電阻膜存在缺損。

說(shuō)明: 對樣品進(jìn)行SEM檢測，發(fā)現電阻膜存在損傷。

說(shuō)明:損傷位置Cr占0.54%，Ni占0.8%，K元素，占0.03%

說(shuō)明:未損傷位置，Cr占1.47%，Ni占1.58%

分析結果：

通過(guò)外觀(guān)、阻值、SEM、EDS等檢測，判斷引起電阻失效的原因：

① 未發(fā)現電阻內部有明顯的異常；

② 電阻膜有缺損，導致電阻值大或開(kāi)路失效；

③ 電阻膜有損傷，且損傷位置發(fā)現O元素含量較高，還有部分K元素（K離子極易溶入水中，容易造成電阻膜電解）；

電阻膜腐蝕造成電阻失效的發(fā)生機理為：外部水汽通過(guò)表面樹(shù)脂保護層浸入到電阻膜層，在內部電場(chǎng)作用下，發(fā)生水解反應。電阻膜表面殘留的K離子、Na離子極易溶于水，加速了電阻膜的水解反應，致使電阻膜腐蝕失效。

基于此，為了減少這種失效情況的發(fā)生，我們建議從以下兩個(gè)方面入手：

一是從工藝入手，增加三防工藝，避免水汽侵蝕；

二是從選材切入，選用高可靠性的電阻材料。

新陽(yáng)檢測中心有話(huà)說(shuō)：

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