貼片電容容值偏低要怎么解決？

我們就貼片電容容值偏低的原因作出分析，方便技術(shù)人員對貼片電容產(chǎn)品容值偏低現象有更清晰的的認識，協(xié)助采購人員買(mǎi)到合適的貼片電容。

1、測試條件影響測試結果

對于不同容值的貼片電容采用不同的測試條件來(lái)測量容值，在測試電壓和測試頻率的設定上有區別，以下是不同容值的量測條件:

電容                 AC 電壓              頻率

容量>10μF          1.0± 0.2Vrms        120Hz

1000pF<容量≦10μF   1.0± 0.2Vrms       1kHz

容量≦ 1000pF       1.0± 0.2Vrms        1MHz

2、測量?jì)x器的差異影響測量結果

大容量的電容（1UF以上）測量時(shí)更容易出現容值偏低的現象，造成這種現象的主要原因是，施加在電容兩端的實(shí)際電壓不能達到測試條件所需求的電壓，這是因為加在電容兩端的測試電壓，由于儀器內部阻抗分壓的原因，與實(shí)際顯示的設定電壓不一致。為了使測量結果誤差降低,建議檢測人員將儀器調校，并盡量把儀器的設定電壓跟實(shí)際加在電容兩端所測的電壓調整,使實(shí)際于待測電容上輸的出電壓一致.

3、測量環(huán)境條件影響測量結果

貼片陶瓷電容被稱(chēng)為非溫度補償性元件,在不同的工作溫度環(huán)境下,電容量會(huì )有比較明顯的變化，電容標稱(chēng)容值與實(shí)際容值之間的差異。如在40℃時(shí)的測試容量將比25℃時(shí)的測試容量低了接近20%?？梢钥闯?，在外部環(huán)境溫度比較高的情況下,電容容值的測試值就會(huì )顯的偏低。建議放置在20℃的環(huán)境下一段時(shí)間,使材料處于穩定的測試環(huán)境下再進(jìn)行容值測試。

4、貼片陶瓷電容材料老化現象

材料老化是指電容的容值隨著(zhù)時(shí)間降低的現象，是一種自然的不可避免的現象。是因為內部晶體結構隨溫度和時(shí)間產(chǎn)生了變化導致了容值的下降，屬于可逆現象。

當對老化的材料施加高于材料居里溫度段時(shí)間后，當環(huán)境溫度恢復到常溫后，材料的分子結構會(huì )回到原始的狀態(tài)。材料由此開(kāi)始老化的又一個(gè)循環(huán)，貼片電容的容值將恢復到正常規格之內。

或把測試容量偏低的電容器浸在錫爐或者過(guò)回流焊后，再進(jìn)行測試，容值會(huì )恢復到正常范圍之內。

客戶(hù)在產(chǎn)品不上線(xiàn)前，先進(jìn)行容值恢復工作，將電容放在PCB板上正常生產(chǎn)加工時(shí)，電容經(jīng)過(guò)回流焊或者波峰焊后，就會(huì )恢復到正常的容值范圍。

平尚科技貼片電容廠(chǎng)家，咨詢(xún)熱線(xiàn)：13622673179  http://www.pad-china.cn