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左移drc
左移drc 文章 進(jìn)入左移drc技術(shù)社區
通過(guò)左移DRC設計規則檢查方法降低IC設計復雜性
- 最成功的半導體公司都知道,集成電路 (IC) 設計日益復雜,這讓我們的傳統設計規則檢查 (DRC) 方法不堪重負。迭代的“通過(guò)校正構建”方法適用于更簡(jiǎn)單的自定義布局,但現在卻造成了大量的運行時(shí)和資源瓶頸,阻礙了設計團隊有效驗證其高級設計和滿(mǎn)足緊迫的上市時(shí)間目標的能力。為了克服這種設計復雜性,主要半導體公司不斷從其生態(tài)系統合作伙伴那里尋找有效的工具。西門(mén)子 EDA 是一家大型電子設計自動(dòng)化 (EDA) 公司,它提供了一種新的、強大的左移驗證策略,他們對其進(jìn)行了評估并宣布它改變了他們早期設計階段的游
- 關(guān)鍵字: 左移DRC 設計規則 IC設計 復雜性
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