EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
tpc-c
tpc-c 文章 進(jìn)入tpc-c技術(shù)社區
或實(shí)現接口大統一,Type-C哪里來(lái)的自信?

- 說(shuō)起“Type-C”,相信大家都不會(huì )陌生,因為最近拿它大做文章的廠(chǎng)商著(zhù)實(shí)不少,但要具體說(shuō)清楚Type-C是什么,估計不少人只能說(shuō)出“可以正反插”“USB的一種”之類(lèi)的大概。其實(shí),Type-C的門(mén)道不止如此,即便同樣是Type-C接口的產(chǎn)品核心也可能是不同的,加之網(wǎng)絡(luò )流傳的各種誤解, 關(guān)于Type-C的說(shuō)法可謂眾說(shuō)紛紜,所以這次就為大家詳細解讀一下Type-C?! ∽灾Z基亞N1平板、蘋(píng)果12英寸新MacBook搭載USB Type-C接口之后,2015年各廠(chǎng)商紛紛推出或將要推出搭載U
- 關(guān)鍵字: Type-C USB
硅谷數模為手機VR推出DisplayPort USB-C方案

- “如果你的女朋友想去巴黎旅游,你又沒(méi)得到足夠的年終獎,可以給他買(mǎi)一套VR設備,她便可以去到塞納河?!惫韫葦的0雽w公司(Analogix)的產(chǎn)品經(jīng)理胡偉民向電子產(chǎn)品世界的編輯描繪了VR的有趣應用,并預測年輕人是最熱衷于VR產(chǎn)品的群體。據介紹,未來(lái)通過(guò)手機實(shí)現VR(虛擬現實(shí)),只要有一根有DisplayPort協(xié)議的USB-C線(xiàn)連接手機和眼鏡/頭盔即可?! 『鷤ッ袷窃谌涨吧钲谂e辦的“易維訊第六屆年度中國ICT媒體論壇”上發(fā)表此觀(guān)點(diǎn)的。據他透露,目前已有客戶(hù)在開(kāi)發(fā),估計2017年會(huì )有DisplayPort
- 關(guān)鍵字: 硅谷數模 USB-C
軟硬結合——酷我音樂(lè )盒的逆天玩法

- 1、靈感來(lái)源: LZ是純宅男,一天從早上8:00起一直要呆在電腦旁到晚上12:00左右吧~平時(shí)也沒(méi)人來(lái)閑聊幾句,刷空間暑假也沒(méi)啥動(dòng)態(tài),聽(tīng)音樂(lè )吧...~有些確實(shí)不好聽(tīng),于是就不得不打斷手頭的工作去點(diǎn)擊下一曲或是找個(gè)好聽(tīng)的歌來(lái)聽(tīng)...但是,[移動(dòng)手鎖定鼠標-->移動(dòng)鼠標關(guān)閉當前頁(yè)面選擇音樂(lè )軟件頁(yè)面-->選擇合適的音樂(lè )-->恢復原來(lái)的界面] 這一過(guò)程也會(huì )煩人不少,如果說(shuō)軟件的設計要在用戶(hù)體驗上做足功夫,感覺(jué)這一點(diǎn)是軟件設計人員很難管住的方面,畢竟操作系統也就這樣安排的嘛(當然,
- 關(guān)鍵字: C# 串口
C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱——常見(jiàn)C-V測量誤差 I
- 偏移[1]和增益誤差[2](如圖7所示)是C-V測量中最常見(jiàn)的誤差。X軸以對數標度的方式給出了電容的真實(shí)值,大小范圍從皮法到納法。Y軸表示系統
- 關(guān)鍵字: C-V測量技術(shù)技巧與陷阱測量誤
C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱——常見(jiàn)C-V測量誤差I(lǐng)I
- 線(xiàn)纜長(cháng)度補償是一種經(jīng)常被忽視的校正技術(shù)。它是針對儀器廠(chǎng)商提供的某些特殊線(xiàn)纜進(jìn)行相位偏移校正的。交流信號沿著(zhù)線(xiàn)纜傳輸需要一定的時(shí)間,
- 關(guān)鍵字: C-V測量技術(shù)技巧與陷阱測量誤
C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱——基于數字源表的準靜態(tài)電容測
- 在準靜態(tài)電容測量[1]中,我們通過(guò)測量電流和電荷來(lái)計算電容值。這種斜率方法使用簡(jiǎn)單,但是它的頻率范圍有限(1~10Hz),因而只能用于一些
- 關(guān)鍵字: C-V測量技術(shù)數字源表靜態(tài)電
C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱—— C-V測量方法與應用的匹配
- 交流阻抗技術(shù)是最常用的電容測量技術(shù)[1]。它最適合于一般的低功率門(mén)電路,也適用于大多數測試結構和大多數探針。其優(yōu)勢在于所需的設備相對
- 關(guān)鍵字: C-V測量技術(shù)匹
C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱—— C-V測量參數提取的局限性
- 在探討C-V測試系統的配置方法之前,了解半導體C-V測量技術(shù)[1]的局限性是很重要的:·電容:從10fF到1微法·電阻:從01歐姆到100M歐姆·
- 關(guān)鍵字: C-V測量技術(shù)參數提
C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱——C-V測量技術(shù)連接與校正 I
- 盡管很多C-V測量技術(shù)本身相對簡(jiǎn)單,但是以一種能夠確保測量質(zhì)量的方式實(shí)現C-V測試儀與探針臺的連接卻不是那么簡(jiǎn)單。目前探針臺使用的機械手
- 關(guān)鍵字: C-V測量技術(shù)校
tpc-c介紹
您好,目前還沒(méi)有人創(chuàng )建詞條tpc-c!
歡迎您創(chuàng )建該詞條,闡述對tpc-c的理解,并與今后在此搜索tpc-c的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
歡迎您創(chuàng )建該詞條,闡述對tpc-c的理解,并與今后在此搜索tpc-c的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì )員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
