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NI PXI開(kāi)關(guān)為規?；瘻y試延長(cháng)射頻測試系統壽命并提高速度
- 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI)近日發(fā)布新的NI PXI/PXIe-2543固態(tài)射頻多路復用器，為工程師提供了一個(gè)長(cháng)期高效的解決方案來(lái)對高達6.6GHz的射頻信號的路由進(jìn)行優(yōu)化。相較傳統的機電開(kāi)關(guān)解決方案，NI PXI/PXIe-2543的固態(tài)構架能夠實(shí)現更加快速的開(kāi)關(guān)以及多次重復測量。
- 關(guān)鍵字： NI PXI/PXIe-2543
由于開(kāi)放 成就非凡：NI的成功啟示
- 時(shí)間回溯到13年前的一場(chǎng)新生訓練中，一家國際大廠(chǎng)的創(chuàng )辦人親自站上講臺，為在座的新進(jìn)員工講述自己的創(chuàng )業(yè)理念。底下一位員工至今印象猶深的是兩件事：一是一家公司最重要的事是對人的投資
- 關(guān)鍵字： Labview PXI NI James Truchard 孫基康
PXI規范概覽與最新發(fā)展
- 縱觀(guān)整個(gè)自動(dòng)化測試領(lǐng)域，我們可以看到一些明顯的趨勢：從設計到生產(chǎn)的每個(gè)階段，不斷提高的信號速率要求測試設備緊跟高速信號的測試要求;單一待測設備往往集成了多種不同的標準和協(xié)議，這就需要測試系統能夠足夠靈活地適應不斷更新的標準;從商業(yè)角度考慮，縮短產(chǎn)品投放市場(chǎng)時(shí)間的壓力也與日俱增，這就需要進(jìn)一步縮短測試時(shí)間，然而另一方面往往又需要進(jìn)行更多的測試項目保證產(chǎn)品質(zhì)量;此外，對制造業(yè)的自動(dòng)化測試而言，測試設備的體積和功耗已經(jīng)無(wú)法再隨著(zhù)測試需求線(xiàn)形增長(cháng)。
- 關(guān)鍵字： PXI PCI
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