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Multitest：Quad Tech概念正是下一代垂直接觸技術(shù)
- 設計和制造最終測試分選機、測試座和負載板的廠(chǎng)商Multitest公司，日前宣布其Quad Tech概念正是下一代的垂直接觸技術(shù)。因其卓越測試良品率和超長(cháng)探針壽命，從而具有顯著(zhù)測試成本優(yōu)勢。 Quad Tech采用非套筒結構，擁有四個(gè)內部接觸點(diǎn)。該設計實(shí)現了出色電氣和機械性能。Quad Tech具有高電流功能、高帶寬和低電感等特點(diǎn)。從機械性能方面看，Quad Tech的長(cháng)形變行程可適應更大的Z軸高度公差。 Quad Tech的設計使Multitest可使用獨特且極為精確的生產(chǎn)工藝，該生產(chǎn)工藝
- 關(guān)鍵字： Multitest 垂直接觸技術(shù)
Multitest獲得多份老化測試板續訂訂單
- 德國羅森漢姆，2011年8月----Multitest的老化測試產(chǎn)品事業(yè)部從一家大型歐洲汽車(chē)IDM那里獲得了多份老化測試板續訂訂單。 Multitest的老化測試板(BIB)業(yè)務(wù)始于2010年，充分發(fā)揮其在A(yíng)TE板設計、制造和組裝方面的能力及其測試座和測試方面的技術(shù)專(zhuān)知。迄今為止，Multitest已經(jīng)在20家客戶(hù)取得了資格，其中包括大型國際IDM。應用范圍從4G無(wú)線(xiàn)產(chǎn)品、航空航天應用、系統單晶片到微處理器。
- 關(guān)鍵字： Multitest BIB
Multitest推出的Mercury測試座具有高達6%的合格率提升
- 面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測試分包商，設計和制造最終測試分選機、測試座和負載板的領(lǐng)先廠(chǎng)商Multitest公司，日前欣然宣布，以出色的電氣及機械性能著(zhù)稱(chēng)的Mercury™測試座，在與另一強勁亞洲競爭廠(chǎng)家所產(chǎn)的知名測試座的逐個(gè)評估中，展現了其領(lǐng)先特性。 在一項大批量生產(chǎn)測試中，Multitest Mercury™測試座的一次合格率平均顯著(zhù)提高了2至6個(gè)百分點(diǎn)。正是因為這一出色成績(jì)，一家國際性IDM已經(jīng)開(kāi)始在多個(gè)器件的測試中使用Mercury™測
- 關(guān)鍵字： Multitest Mercury 測試座
Multitest推出全新三溫水平16測試位分選機
- 面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測試分包商，設計和制造最終測試分選機、測試座和負載板的領(lǐng)先廠(chǎng)商Multitest公司，現推出新型16測試位三溫水平拿放式分選機：MT9510 x16。 該系統以成熟的MT95XX平臺技術(shù)為基礎，此平臺已擁有50多家客戶(hù)公司的600多套系統的安裝量。 與MT9510 XP類(lèi)似，新的16測試位分選機保證了-55°C 到+175°C的出色溫度表現，并擁有多種選擇方案實(shí)現高等級靜電保護。系統運行速度高，并且可以很容易地廣泛用于各種封裝
- 關(guān)鍵字： Multitest 分選機 MT9510 x16
Multitest的Dura Kelvin顯著(zhù)降低總測試成本
- 面向世界各地的集成設備制造商(IDM)和最終測試分包商，設計和制造測試分選機、測試座和負載板的領(lǐng)先廠(chǎng)商Multitest公司，日前欣然宣布其Dura?Kelvin測試座再次證明在超長(cháng)的使用壽命和清洗周期方面名不虛傳。在一家國際性IDM大批量生產(chǎn)廠(chǎng)，Dura?Kelvin測試座顯著(zhù)降低了總體測試成本。 在項目期限內，首檢合格率和清洗頻率都受到了監控。Dura?Kelvin明顯超過(guò)了所有目標，使用壽命已超過(guò)4百萬(wàn)次插撥，這是設定目標的四倍以上。首檢合格率從95%提高到98
- 關(guān)鍵字： Multitest 測試座 Dura-Kelvin
優(yōu)化測試單元產(chǎn)能：Multitest的MT2168充分利用先進(jìn)測試儀性能
- 面向集成設備制造商（IDM）和最終測試分包商，設計和制造測試分選機、測試座、測試負載板的領(lǐng)先廠(chǎng)商Multitest公司，日前欣然宣布其MT2168的設計旨在實(shí)現最佳測試儀利用率。短Index時(shí)間（DUT交換時(shí)間）、快速上料與分類(lèi)以及超大器件預熱能力均支持分選機與新一代測試儀保持同步。 理想情況下，如果分選機沒(méi)有局限性，增強的測試儀性能從兩方面優(yōu)化了測試單元產(chǎn)能：它們得益于更短測試時(shí)間和更高測試并行性的應用。 目前很多先進(jìn)的分選機不能支持增強的測試儀性能，即使它們擁有多個(gè)相應的測試位亦是如此
- 關(guān)鍵字： Multitest 測試負載 測試座
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