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矢網(wǎng)Wiltron360B應用在RF仿真中的
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò )家園
- 關(guān)鍵字： 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀 Wiltron360B DUT 射頻仿真
如何降低測試系統開(kāi)關(guān)噪聲(04-100)
- 為測試電子和機電器件設計開(kāi)關(guān)系統所遇到的問(wèn)題和設計產(chǎn)品本身一樣多。隨著(zhù)器件中高速邏輯的出現以及與更靈敏模擬電路的連接，使得降低測試開(kāi)關(guān)系統中的噪聲比以前任何時(shí)候更加重要。 本文所述的噪聲降低技術(shù)準則是針對信號頻率低于300MHz、電壓低于250V、電流小于5A和電壓乘赫茲積小于107。 任何新式測試系統都用很多信號和電源線(xiàn)來(lái)仿真和測量DUT(待測器件)，并有各種各樣的開(kāi)關(guān)進(jìn)行自動(dòng)連接。通用測試系統結構示于圖1?？刂瓶偩€(xiàn)示于圖中左邊。模擬、數字和電源總線(xiàn)作為垂直線(xiàn)對示于不同子系統后面。
- 關(guān)鍵字： 測試 噪聲 DUT
沒(méi)有ATE生成向量的精密測試(04-100)
- 消費類(lèi)電子產(chǎn)品正在變得更復雜和更快速，因而使得測試成本成為問(wèn)題。大的和復雜的SoC往往是消費類(lèi)產(chǎn)品的心臟，不管它們的性能多么先進(jìn)，其成本必須是低的。 各種內裝自測試(BIST)已應用于測試DUT(被測器件)的內部性能，導致產(chǎn)品較低的生產(chǎn)成本。剩下的主要問(wèn)題是快速串行接口(如PCI Express，Serial ATA，FibreChannel和Serial RapidIO)的全面測試。這些高速鏈路在計算、通信和音視頻娛樂(lè )前進(jìn)中是不可缺少的。 重視測試成本是一個(gè)重要的問(wèn)題，設計人員已應用BI
- 關(guān)鍵字： BIST DUT
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