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d-sub 文章 進(jìn)入d-sub技術(shù)社區
超低輸入電壓升壓電路解決方案
- 便攜式產(chǎn)品一般都采用電池供電，而因為成本和體積方面的考慮，在設計上有減少使用電池數量及體積的趨勢。另外，亦因全球能源問(wèn)題，各種各類(lèi)的電池使用已備受關(guān)注了。當中包括太陽(yáng)能電池及燃料電池。 而這樣就會(huì )影響到電源電壓比設備所需的工作電壓為低。這時(shí)候，就必須要追加升壓電路了。一般使用的是DC/DC升壓轉換器。 而在這超低輸入電壓的情況下，設計工程師就會(huì )面臨以下的難題。 1 開(kāi)關(guān)器件的驅動(dòng)問(wèn)題。 2 升壓電路的啟動(dòng)問(wèn)題。 3 最大占空比MaxDuty的問(wèn)題。 在這三個(gè)主要問(wèn)題
- 關(guān)鍵字： DC/D 轉換器 模擬技術(shù) 電源技術(shù) 模擬IC 電源
一種采用雙采樣技術(shù)的高性能采樣保持電路
- 1 引 言 隨著(zhù)技術(shù)的發(fā)展，高速度高精度已成為流水線(xiàn)A/D轉換器的設計目標，而采樣/保持電路作為流水線(xiàn)結構A/D轉換器的核心部分，他的性能決定了整個(gè)A/D轉換器的性能。因此，設計一個(gè)高速高精度的采樣保持電路就顯得尤為重要。采樣保持電路的精度要求一般受限于運 放的有限增益和開(kāi)關(guān)電路引起的誤差。一方面，運放并非理想運放，他存在著(zhù)增益誤差;另一方面由于采樣保持電路是一種開(kāi)關(guān)電容電路的運用，他本身存在的開(kāi)關(guān)電荷注入效應[1]和時(shí)鐘潰通，以及開(kāi)關(guān)導通電阻的非線(xiàn)性[2]，都會(huì )影響采樣保持電路的精度。對
- 關(guān)鍵字： 模擬技術(shù) 電源技術(shù) A/D 轉換器 模擬IC
TLC1549串口傳輸與單片機的A／D設計
- 1 概述 TLC1549系列是美國德州儀器公司生產(chǎn)的具有串行控制、連續逐次逼近型的模數轉換器，它采用兩個(gè)差分基準電壓高阻輸入和一個(gè)三態(tài)輸出構成三線(xiàn)接口，其中三態(tài)輸出分別為片選(CS低電平有效)，輸入/輸出時(shí)鐘(I/O CLOCK)，數據輸出(DATAOUT)。TLC1549引腳排列如圖1所示。TLC1549能以串行方式送給單片機，其功能結構如圖2所示。由于TLC1549采用CMOS工藝。內部具有自動(dòng)采樣保持、可按比例量程校準轉換范圍、抗噪聲干擾功能，而且開(kāi)關(guān)電容設計使在滿(mǎn)刻度時(shí)總誤差最大僅為
- 關(guān)鍵字： 模擬技術(shù) 電源技術(shù) TLC1549 串口 A／D 模擬IC
基于LabVIW的光纖水聽(tīng)器閉環(huán)工作點(diǎn)控制系統
- 1 引 言 干涉型光纖水聽(tīng)器由于輸出的相位調制信號與外界聲信號成非線(xiàn)性關(guān)系，而且受溫度變化、壓力波動(dòng)和機械抖動(dòng)等因素的影響，兩臂相位差會(huì )隨機漂移，從而引起信號幅度的隨機漲落，即相位衰落現象。因此，其信號檢測比其它類(lèi)型的光纖水聽(tīng)器要困難得多。伴隨著(zhù)光纖水聽(tīng)器技術(shù)近30年的發(fā)展，出現了許多抗相位衰落的信號檢測方法[1～9]，其中閉環(huán)工作點(diǎn)控制屬于主動(dòng)相位補償的一種，具有簡(jiǎn)單、線(xiàn)性度好和抗光源相位噪聲等優(yōu)點(diǎn)[1，6]，但是干涉儀中壓電陶瓷(PZT)的引入，大大降低了系統的穩定性與可靠性，且操作不方便。
- 關(guān)鍵字： 嵌入式系統 單片機 A/D LabVIW 正弦信號 測試工具
基于PDM的D/A轉換技術(shù)
- 1 引言 在數字信號處理中，常常需要將多位數字信號轉化為一位數字信號。例如，在通信領(lǐng)域，接收器接收到經(jīng)過(guò)編碼的數字語(yǔ)音信號，需將他轉化為模擬信號，即將原來(lái)的模擬語(yǔ)音信號復原。經(jīng)過(guò)編碼的語(yǔ)音信號，通常是多位的比特流。因此，如何將多位比特流轉化為模擬語(yǔ)音信號，便成為保證通信質(zhì)量的關(guān)鍵。又如，在一些控制電路中，控制信號是經(jīng)過(guò)計算生成的多位數字信號，而這些數字信號必須轉化為模擬信號才能對電路進(jìn)行控制。因此，如何將多位數字信號轉化為符合實(shí)際要求的模擬信號，則成為控制電路設計
- 關(guān)鍵字： 模擬技術(shù) 電源技術(shù) PDM D/A 轉換技術(shù) 模擬IC 電源
提高PIC16C711單片機片內A/D分辨率的方法
- 目前，單片機中嵌入的A/D一般為8位到10位，難以滿(mǎn)足信號處理應用中高分辨率的要求；而外接高分辨率的A/D將使成本明顯提高，因為A/D轉換器的價(jià)格將隨其位數的增加而成倍增加。本文介紹一種提高PIC16C711單片機片內A/D分辨率的方法，將PIC16C711片內的8位A/D提高到11位。這種方法在PIC系列的其他單片機也適用。 美國Microchip公司推出的8位單片機PIC16C711是一種性能價(jià)格比很高的單片機。它價(jià)格低、封裝小、采用CMOS工藝，具有OTP型，開(kāi)發(fā)起來(lái)很方便。它內含4路8位高
- 關(guān)鍵字： 嵌入式系統 單片機 PIC16C711 A/D 嵌入式
提高PIC16C711單片機片內A/D分辨率的方法
- 摘要：介紹一種將PIC16C711片內8位A/D提高到11位的方法。此方法電路簡(jiǎn)單，速度快，可提高單片機應用系統的性能價(jià)格比，具有一定的推廣價(jià)值。 關(guān)鍵詞：PIC16C711 單片機 A/D 分辨率 目前，單片機中嵌入的A/D一般為8位到10位，難以滿(mǎn)足信號處理應用中高分辨率的要求；而外接高分辨率的A/D將使成本明顯提高，因為A/D轉換器的價(jià)格將隨其位數的增加而成倍增加。本文介紹一種提高PIC16C711單片機片內A/D分辨率的方法，將PIC16C711
- 關(guān)鍵字： PIC16C711 單片機 A/D 分辨率 MCU和嵌入式微處理器
一種用單片機控制的光譜數據采集系統
- 摘要：介紹利用單片機和A/D器件MAX120等構成的光譜信號采集系統，由單片機控制A/D產(chǎn)生不同的采樣頻率，用于光電倍增管和CCD輸出的光譜信號的采集。 關(guān)鍵詞：?jiǎn)纹瑱C A/D 信號采集 光譜 概述 在光譜測量中，常用光電倍增管（PMT）和電荷耦合器件（CCD）作為光電轉換器。在慢變化、高精度光譜測量中使用PMT；對于閃光燈、熒光和磷光等強度隨時(shí)間變化時(shí)的光譜信號則采用CCD。PMT和CCD輸出的信號形式是不同的：光電倍增管輸出的是連續的模擬信號；CC
- 關(guān)鍵字： 單片機 A/D 信號采集 光譜 MCU和嵌入式微處理器
科利登發(fā)布D-6432DFT測試解決方案
- 科利登系統有限公司推出業(yè)界性?xún)r(jià)比最高、性能最為出眾的解決方案Sapphire D-6432DFT，用于測試新興的高速計算和消費應用中所使用的微處理器、游戲及圖形器件。該設備的推出再次強化了科利登市場(chǎng)領(lǐng)先的Sapphire測試平臺。 Sapphire D-6432DFT設備是首款用于高速串行總線(xiàn)的集成測試解決方案，在一次插入中結合了高速環(huán)路測試、抖動(dòng)測量和注入信號，以及掃描/功能性測試和DC參數測量。D-6432DFT的密度比同類(lèi)產(chǎn)品高出4倍，可為制造商提供突破性的可測性設計（DFT）方法，助其顯
- 關(guān)鍵字： 測試 測量 科利登 D-6432DFT 測試測量
奧地利微電子公司推出12bitA-D轉換IC
- 奧地利微電子公司（AustriamicrosystemsAG）開(kāi)始銷(xiāo)售2種以低耗電為特點(diǎn)的12位A-D轉換IC。分別是1通道的全差分型號“AS1524”和2通道的單端型號“AS1525”。取樣速率為最大150k樣本/秒。面向遙測傳感器以及數字筆（Pendigitizer）等要求低耗電、尺寸小的電池驅動(dòng)移動(dòng)數據接收系統。 電源電壓3V、采樣速率150k樣本/秒時(shí)，消耗電流為350μA。AS1524/25配備有自動(dòng)運行停止（ShutDown）功能，在采樣速率慢的情況下，將轉換到節約耗電的
- 關(guān)鍵字： 12bitA-D 奧地利微電子 轉換IC
d-sub介紹
概述
俗稱(chēng)VGA（Video Graphics Adapter）接口?？赡芤驗樨Q看很像一個(gè)大寫(xiě)的字母D，所以稱(chēng)之為D-Sub。這是一種模擬信號接口，總共有15 只針腳，除了第9 只針腳沒(méi)有作用外，其余14 只針腳各負責傳遞獨立的模擬信號，1紅基色 red 2 綠基色 green 3 藍基色 blue 4 地址碼 ID Bit 5 自測試 ( 各家定義不同 ) 6 紅地 7 綠地 8 藍地 9 [ 查看詳細 ]
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