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波士頓半導體推出Aetrium分選機直銷(xiāo)與服務(wù)

  •   波士頓半導體設備公司(BSE) 近日宣布,其在亞洲的現有銷(xiāo)售與服務(wù)機構將立即開(kāi)始在該地區提供Aetrium 分選機的銷(xiāo)售與服務(wù)。 BSE 最近收購了Aetrium Inc. 的測試分選機資產(chǎn)(其使用者與使用波士頓半導體設備公司現有自動(dòng)化測試設備(ATE) 的公司及部門(mén)相同)。 BSE 龐大的亞洲銷(xiāo)售與服務(wù)團隊力量將為Aetrium 分選機提供支援, 更可以加強該公司對亞洲地區關(guān)鍵半導體制造商及封測代工(OSAT) 客戶(hù)的支援?! 〔ㄊ款D半導體設備公司執行副總裁Colin Scholefield 稱(chēng):「
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消費類(lèi)音視頻SoC系統的ATE測試

  • 消費類(lèi)領(lǐng)域的融合正在加速,在消費類(lèi)電腦以及通信應用中,由于每個(gè)設備不斷地增添新的功能,它們之間的界線(xiàn)變得更加模糊。例如無(wú)線(xiàn)手機,僅此一個(gè)設備現已內置數碼攝像機、視頻、因特網(wǎng)與電子郵件接入、多媒體消息、
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基于A(yíng)TE測試電源負載的數字可編程精密電阻簡(jiǎn)介

  • 圖1所示的數字可編程精密電阻可在定制設計的 ATE(自動(dòng)測試設備)中用作微處理器驅動(dòng)的電源負載。IC1 是一個(gè) 8 位 電流輸出型 DAC,即DAC08型DAC ,它驅動(dòng)電流-電壓變換器 IC2A,IC2A又驅動(dòng)功率 MOSFET Q1 的柵極。被測
  • 關(guān)鍵字: ATE  測試電源  負載  數字可編程    

基于A(yíng)TE測試電源負載的數字可編程精密電阻

  •   圖1所示的數字可編程精密電阻可在定制設計的 ATE(自動(dòng)測試設備)中用作微處理器驅動(dòng)的電源負載。IC1 是一個(gè) 8 位 電流輸出型 DAC,即DAC08型DAC ,它驅動(dòng)電流-電壓變換器 IC2A,IC2A又驅動(dòng)功率 MOSFET Q1 的柵極。
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基于A(yíng)TE推動(dòng)WiMAX射頻測試與特征描述

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò )家園
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ATE促進(jìn)WiMAX射頻測試與特征描述

  • 事實(shí)證明,WiMAX收發(fā)器件有益于消費電子市場(chǎng)的發(fā)展,它們在此找到了多種用途,其中包括把WiFi熱點(diǎn)連接到互聯(lián)網(wǎng)。為確保器件按預想的那樣工作,并且使它們迅速上市,器件制造商們需要先進(jìn)的多功能測試設備和同樣先進(jìn)的
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利用ATE測試電源負載的數字可編程精密電阻

  • 圖1所示的數字可編程精密電阻可在定制設計的 ATE(自動(dòng)測試設備)中用作微處理器驅動(dòng)的電源負載。IC1 是一個(gè) 8 位 電流輸出型 DAC,即DAC08型DAC ,它驅動(dòng)電流-電壓變換器 IC2A,IC2A又驅動(dòng)功率 MOSFET Q1 的柵極。被
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理解ATE SPI (串行外設接口)

  • 理解ATE SPI (串行外設接口)大多數Maxim? ATE設計都采用了一個(gè)串行接口,以便從外部控制器件。這種串行接口 ...
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Test Advantage通過(guò)收購Microstats拓展亞洲業(yè)務(wù)

  • Boston Semi Equipment Group(BSE 集團)旗下公司 Test Advantage 今天宣布已經(jīng)收購了位于菲律賓的一家面向自動(dòng)測試設備 (ATE) 市場(chǎng)的硬件維修中心 Microstats, LLC。這兩家公司將整合它們的產(chǎn)品、解決方案和共同的客戶(hù)群,以增強 Test Advantage 在后端半導體市場(chǎng)的產(chǎn)品和服務(wù)。
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e絡(luò )盟新增Fluke多功能鉗表系列

  • e絡(luò )盟(前身為派睿電子)母公司Element14公司日前宣布,在其亞太地區銷(xiāo)售清單中推出業(yè)內最新的鉗表系列。...
  • 關(guān)鍵字: Fluke  e絡(luò )盟  iFlex  柔性電流探頭  

利用ATE(自動(dòng)測試設備)測試電源負載的數字可編

  • 圖1所示的數字可編程精密電阻可在定制設計的 ATE(自動(dòng)測試設備)中用作微處理器驅動(dòng)的電源負載。IC1 是一個(gè) 8 位 電流輸出型 DAC,即DAC08型DAC ,它驅動(dòng)電流-電壓變換器 IC2A,IC2A又驅動(dòng)功率 MOSFET Q1 的柵極。被
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ATE 8月高調亮相深圳

  •   中國目前唯一一個(gè)專(zhuān)注于工業(yè)組裝技術(shù)與裝備應用領(lǐng)域的專(zhuān)業(yè)展覽會(huì )--第三屆華南國際工業(yè)組裝技術(shù)與裝備展覽會(huì )(Assembly Technology Expo China-ATE),將在成功舉辦兩屆的基礎上,于2008 年8月26日至29日再次閃亮登陸深圳會(huì )展中心。   工業(yè)組裝產(chǎn)品技術(shù)在整車(chē)制造和汽車(chē)零部件、電子及通訊設備、家用電器、醫療設備和機械制造行業(yè)等領(lǐng)域有著(zhù)非常廣泛的應用。華南地區作為全球制造業(yè)增長(cháng)最快的地區之一,在電子信息產(chǎn)業(yè)發(fā)展、汽車(chē)制造等行業(yè)均遠遠領(lǐng)先于我國其他地區。數據分析顯示,華南地區
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利用多路輸出電源實(shí)現ATE系統的最大靈活性和經(jīng)濟性

  • ATE 系統設計師經(jīng)常要同時(shí)面對降低系統成本和提高系統靈活性的挑戰。本文講述 ATE 系統電源新的獨特性能和如何幫助 ATE 系統設計師從容應對這些挑戰。
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用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)

  •   邊界掃描廣泛應用在板級測試和系統內編程中。這些應用典型地包含了具有邊界掃描能力的器件與群集器件測試之間的連接性測試,來(lái)驗證與非邊界掃描器件(存儲器和邏輯器件)的連接性。   測試性和可實(shí)現測試覆蓋范圍是UUT(被測單元)特定的,并依賴(lài)于邊界掃描實(shí)現的水平。特別是在產(chǎn)品測試中,利用連接到UUT上的外設I/O進(jìn)行測試來(lái)擴展邊界掃描測試覆蓋范圍。最近幾年,第3方邊界掃描工具的集成流行于板級產(chǎn)品測試設備,如內電路測試器。往往這樣的集成,比獨立應用的邊界掃描系統優(yōu)越性并不多。某些方案靠組合邊界掃描和ATE資源
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Gartner:08全球半導體設備開(kāi)支將降9.9%

  •   據市場(chǎng)研究公司Gartner最新發(fā)表的研究報告稱(chēng),2008年全球半導體設備開(kāi)支預計將達到403億美元,比2007年的448億美元減少9.9%。   Gartner半導體生產(chǎn)事業(yè)部副總裁KlausRinnen稱(chēng),2007年的特點(diǎn)是DRAM內存不顧供過(guò)于求的現實(shí)繼續加大投資、NAND閃存開(kāi)支增速減緩和代工廠(chǎng)商恢復開(kāi)支的狀況令人失望。在2008年,我們預計隨著(zhù)DRAM內存市場(chǎng)將糾正資本開(kāi)支的長(cháng)期錯誤,半導體主要設備市場(chǎng)的開(kāi)支將減少。代工廠(chǎng)商開(kāi)支增長(cháng)速度減緩和由于擔心美國經(jīng)濟衰退而采取的謹慎態(tài)度都是造成20
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ate iflex介紹

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