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NAND Flash上均勻損耗與掉電恢復在線(xiàn)測試
- 摘要 NAND Flash以其大容量、低價(jià)格等優(yōu)勢迅速成為嵌入式系統存儲的新寵，因此其上的文件系統研究也日益廣泛，本文簡(jiǎn)要介紹了常用的NAND Flash文件系統YAFFS，并針對YAFFS在均勻損耗和掉電恢復方面進(jìn)行在線(xiàn)測試。在給出測試結果的同時(shí)，著(zhù)重研究嵌入式軟件測試方案和方法;對測試結果進(jìn)行分析，并提出改進(jìn)方案和適用環(huán)境。 關(guān)鍵詞 NAND Flash 均勻損耗 軟件測試 YAFFS 引 言 隨著(zhù)嵌入式技術(shù)在各種電子產(chǎn)品中的廣泛應用，嵌入式系統中的數據存儲和管理已經(jīng)成為一個(gè)重要
- 關(guān)鍵字： NAND Flash 均勻損耗 軟件測試 YAFFS
在C51系統上實(shí)現YAFFS文件系統
- 隨著(zhù)NAND Flash存儲器作為大容量數據存儲介質(zhì)的普及，基于NAND閃存的文件系統YAFFS(Yet Another Flash File System)正逐漸被應用到各種嵌入式系統中。本文將詳細闡述YAFFS文件系統在C51系統上的實(shí)現過(guò)程。 1 NAND Flash的特點(diǎn) 非易失性閃速存儲器Flash具有速度快、成本低、密度大的特點(diǎn)，被廣泛應用于嵌入式系統中。Flash存儲器主要有NOR和NAND兩種類(lèi)型。NOR型比較適合存儲程序代碼;NAND型則可用作大容量數據存儲。NAND閃存的存儲單元為
- 關(guān)鍵字： C51 YAFFS
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