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基于FPGA的抗SEU存儲器的設計實(shí)現

  • 基于FPGA的抗SEU存儲器的設計實(shí)現,O 引言隨著(zhù)我國航空航天事業(yè)的迅猛發(fā)展，衛星的應用越來(lái)越廣泛。然而，太空環(huán)境復雜多變，其中存在著(zhù)各種宇宙射線(xiàn)與高能帶電粒子，它們對運行于其中的電子器件會(huì )產(chǎn)生各種輻射效應。輻射效應對電子器件的影響不可忽視
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抗SEU存儲器的FPGA設計實(shí)現

  • 抗SEU存儲器的FPGA設計實(shí)現,O 引言　　隨著(zhù)我國航空航天事業(yè)的迅猛發(fā)展，衛星的應用越來(lái)越廣泛。然而，太空環(huán)境復雜多變，其中存在著(zhù)各種宇宙射線(xiàn)與高能帶電粒子，它們對運行于其中的電子器件會(huì )產(chǎn)生各種輻射效應。輻射效應對電子器件的影響不可
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抗SEU存儲器的設計的FPGA實(shí)現

  • 抗SEU存儲器的設計的FPGA實(shí)現,　　O 引言　　隨著(zhù)我國航空航天事業(yè)的迅猛發(fā)展，衛星的應用越來(lái)越廣泛。然而，太空環(huán)境復雜多變，其中存在著(zhù)各種宇宙射線(xiàn)與高能帶電粒子，它們對運行于其中的電子器件會(huì )產(chǎn)生各種輻射效應。輻射效應對電子器件的影響
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SEU的抑制

  • 　　引言 　　隨著(zhù)工藝技術(shù)的迅速發(fā)展，創(chuàng )新進(jìn)一步提高了器件在速率、容量和功耗等方面的性能，使得FPGA比ASIC更具優(yōu)勢。然而，技術(shù)的發(fā)展也突出了以前可以忽略的某些效應，例如，單事件干擾(SEU)導致的軟誤碼影響越來(lái)越大。通過(guò)仔細的IC設計，65nm節點(diǎn)單位比特的軟誤碼率有所下降，但是每一工藝節點(diǎn)的邏輯容量在不斷翻倍，配置RAM(CRAM)比特數量也隨之增長(cháng)。 　　現在的FPGA容量越來(lái)越大，功能越來(lái)越強，逐漸擔負起系統的核心功能，例如數據通路等；因此，設計人員能夠將系統集成在一片可編程芯片中。這些發(fā)
  • 關(guān)鍵字： SEU  干擾率  
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seu介紹

SEU是Single event upset的縮寫(xiě)，中文譯為單粒子翻轉。是SEE的一種表現形式。 Single event upset (SEU) is defined by NASA as "radiation-inducederrors in microelectronic circuits caused when charged particles(usually from the rad [ 查看詳細 ]

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