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NI擴展PXI平臺的功能 降低半導體分析和測試成本
- 2011年8月——美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI)擴展其PXI平臺的功能，通過(guò)新發(fā)布的每個(gè)引腳參數測量單元模塊(PPMU)和源測量單元模塊(SMU)用于半導體的特性描述和生產(chǎn)測試。NI PXIe-6556 200 MHz高速數字I / O具備PPMU， NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低資本設備成本，縮短測試時(shí)間，并提升各種測試設備的混合信號靈活性。 使用NI PXIe-6556高速數字I /
- 關(guān)鍵字： NI PXI平臺 PPMU SMU
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