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新型功率器件的老化特性：HTOL高溫工況老化測試
- _____隨著(zhù)技術(shù)的不斷進(jìn)步，新型功率器件如碳化硅（SiC）和氮化鎵（GaN）因其優(yōu)異的性能被廣泛應用于各種電子設備中。然而，這些器件在長(cháng)期連續使用后會(huì )出現老化現象，導致性能退化。如何在短時(shí)間內準確評估這些器件的老化特性，成為行業(yè)關(guān)注的焦點(diǎn)。目前，針對功率器件的老化測試主要包括多種不同的測試方式。其中，JEDEC制定的老化測試標準（如HTGB、HTRB、H3TRB和功率循環(huán)測試）主要針對傳統的硅基功率器件。對于新型的SiC等功率器件，AQG-324標準進(jìn)一步要求增加動(dòng)態(tài)老化測試，如動(dòng)態(tài)柵偏和動(dòng)態(tài)反偏測試。
- 關(guān)鍵字： 功率器件 老化特性 HTOL 高溫工況 老化測試
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