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1xEV-DO 移動(dòng)終端測試要求及方法
- 摘要:本文介紹了1xEV-DO技術(shù)的歷史背景及發(fā)展，對1xEV-DO移動(dòng)終端研發(fā)、生產(chǎn)測試的內容以及相關(guān)標準進(jìn)行了具體描述，并對目前業(yè)內使用的兩種生產(chǎn)測試方法進(jìn)行了比較和分析。 關(guān)鍵字：1xEV-DO ，Rel 0 , Rel A , TAP ，ETAP，非信令方式，FTM 1．1xEV-DO技術(shù)的產(chǎn)生及發(fā)展1.1 1xEV-DO技術(shù)的發(fā)展和演變如圖1.1所示，1xEV-DO技術(shù)源自CDMA2000。在20世紀末，隨著(zhù)無(wú)線(xiàn)技術(shù)和互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的高速發(fā)展，對高速無(wú)線(xiàn)數據服務(wù)的需求日益緊迫。為了在現有的無(wú)線(xiàn)
- 關(guān)鍵字： 0 1xEV-DO A ETAP Rel TAP
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