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T/R組件波束控制測試方案設計

• 　　1引言 　　信息技術(shù)的發(fā)展早已滲透到國民經(jīng)濟的各個(gè)領(lǐng)域，而雷達技術(shù)自問(wèn)世以來(lái)就已經(jīng)在軍事領(lǐng)域發(fā)揮著(zhù)舉足輕重的作用。為適應人造地球衛星及彈道導彈的觀(guān)測要求，有源相控陣雷達技術(shù)獲得了飛速發(fā)展。 　　T/R組件波束控制電路是有源相控陣雷達上的關(guān)鍵元器件。波束控制電路一般為定制專(zhuān)用芯片，不同的波控電路差異較大，但是其主要的工作原理及內部結構大致相同。由于具有專(zhuān)用性，波束控制電路的測試比較麻煩。本文分析了波束控制電路的主要內部結構，找出電路測試中的難點(diǎn)，提出一種解決方案，并給出設計原理與結構，為該類(lèi)電路的測
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