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評估電子元件老化和穩定性的高溫老化方法

• 了解由于使用石英晶體的溫度和時(shí)間，以及應用外推方法、老化方程和Arrhenius方程，電子元件的老化和穩定性挑戰。即使有固定的輸入，電子電路也不是完全穩定的；經(jīng)常隨時(shí)間和溫度漂移。這些與理想行為的偏差會(huì )給精確測量增加相當大的誤差。隨時(shí)間漂移，也稱(chēng)為長(cháng)期穩定性，是需要長(cháng)時(shí)間高精度應用的關(guān)鍵因素。測量系統的初始精度誤差通?？梢酝ㄟ^(guò)初始校準來(lái)消除；然而，消除長(cháng)期漂移的誤差需要定期校準。此外，這些校準在某些工業(yè)、醫療、軍事和航空航天應用中可能不切實(shí)際。在這篇文章中，我們將介紹評估電子元件長(cháng)期穩定性的高溫加速老化方
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