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老化測試插座
老化測試插座 文章 進(jìn)入老化測試插座技術(shù)社區
集成電路老化測試插座的結構形式
- 摘要：集成電路(IC)老化測試插座(以下簡(jiǎn)稱(chēng)老化測試插座)主要應用于集成電路產(chǎn)品的檢測、老化、篩選等場(chǎng)合，其最大的用戶(hù)是集成電路器件制造廠(chǎng)。本文對集成電路老化測試插座的結構形式做一簡(jiǎn)單的介紹。 關(guān)鍵詞：集成電路;老化測試;插座;表面貼裝;封裝 集成電路制造廠(chǎng)對其生產(chǎn)的每種集成電路封裝器件都要進(jìn)行老化測試，所以集成電路需求量的迅速增長(cháng)，為老化測試插座產(chǎn)業(yè)也提出了更高的要求，必須具備與產(chǎn)量和品種相適應的老化測試插座。老化測試插座是對集成電路進(jìn)行可靠性驗證和各類(lèi)環(huán)境適應性試驗的必備的試驗裝置。
- 關(guān)鍵字： 集成電路 老化測試插座 201105
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老化測試插座介紹
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