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硅片調試
硅片調試 文章 進(jìn)入硅片調試技術(shù)社區
惠瑞捷推出適用于V93000平臺的Inovys硅片調試解決方案
- 惠瑞捷半導體科技有限公司推出Inovys™硅片調試解決方案，以滿(mǎn)足更高效調試的需求，加速新的系統級芯片 (SoC)器件的批量生產(chǎn)?；萑鸾萑碌慕鉀Q方案把革命性的Inovys FaultInsyte 軟件和具有可擴充性和靈活性惠瑞捷V93000 SoC測試系統結合在一起。這是一款集成式解決方案，通過(guò)把電路故障與復雜的系統級芯片上的物理缺陷對應起來(lái)，可以大大縮短錯誤檢測和診斷所需的時(shí)間。它明顯地縮短了制造商采用90 nm(及以下)工藝調試、投產(chǎn)和大批量生產(chǎn)所需的時(shí)間。 由于復雜的系統級芯
- 關(guān)鍵字： 半導體 惠瑞捷 硅片調試 SoC
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硅片調試介紹
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