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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 電路測試

電路測試主要運算放大器參數

  • 1979 年 1 月，《電子測試》發(fā)表了一篇文章稱(chēng)，一款單個(gè)測試電路可ldquo;執行對任何運算放大器全面檢查所需的所有標準 DC 測試rdquo;。單個(gè)測試電
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在電路測試階段使用無(wú)鉛PCB表面處理工藝的研究

  • 引言：無(wú)鉛PCB的出現對在電路測試(ICT)提出了新的問(wèn)題，本文描述了現有的PCB表面處理工藝，并分析了這些工藝對ICT的影響，指出影響ICT的關(guān)鍵是探針與測試點(diǎn)間的接觸可靠性，并介紹了為滿(mǎn)足ICT的要求在PCB構建過(guò)程中需
  • 關(guān)鍵字： PCB  電路測試  表面處理  無(wú)鉛    

在電路測試階段使用無(wú)鉛PCB表面處理工藝的研究和建議

  • 引言：無(wú)鉛PCB的出現對在電路測試(ICT)提出了新的問(wèn)題，本文描述了現有的PCB表面處理工藝，并分析了這些工藝對ICT...
  • 關(guān)鍵字： 電路測試  PCB表面處理工藝  

美光科技將擴建在西安的電路測試工廠(chǎng)

  • 　　美光科技(Micron Technology Inc.) 日前宣布擴建在西安的電路測試工廠(chǎng)，其中包括完成二期 40萬(wàn)平方英尺的芯片測試的模組封裝工廠(chǎng)項目，以滿(mǎn)足其亞洲客戶(hù)不斷增長(cháng)的訂單需求，新的工廠(chǎng)將視市場(chǎng)需求情況，在未來(lái)3-5年內投入運營(yíng)。 　
  • 關(guān)鍵字： 美光  電路測試  

基于PXI和GPIB總線(xiàn)電路測試系統的開(kāi)發(fā)與設計

  • 傳統的人工方法檢測硬件電路的性能存在一系列的問(wèn)題。測試總線(xiàn)技術(shù)是支撐自動(dòng)化測試系統發(fā)展的核心技術(shù)，該項目借鑒國內外在自動(dòng)測試系統(ATS)尤其是軍用ATS中的先進(jìn)技術(shù)，針對該電路性能檢測的需要，提出基于PXI和GPIB總線(xiàn)的LabVIEW軟件平臺自動(dòng)測試系統設計方法。對提高電路測試效率、可信度和自動(dòng)化水平具有重要意義，解決了工程應用的實(shí)際問(wèn)題，是一項成功的ATS應用案例。
  • 關(guān)鍵字： GPIB  PXI  總線(xiàn)  電路測試    
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電路測試介紹

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